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HALT應(yīng)力篩選復(fù)合試驗(yàn)箱
- 發(fā)布日期：
- 有效日期：
- 所 在 地：
- 產(chǎn) 地：
- 已獲點(diǎn)擊：
- 2025年1月21日
- 2025年6月7日
- 廣東東莞市
- 東莞市賽思檢測(cè)設(shè)備有限公司
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【產(chǎn)品簡(jiǎn)介】
【詳細(xì)說(shuō)明】
HALT應(yīng)力篩選復(fù)合試驗(yàn)箱改變了以往以為進(jìn)行溫度儲(chǔ)存、溫度循環(huán)、高低溫沖擊（兩箱式）、高低溫+常溫沖擊（3箱式）、應(yīng)力篩選ESS試驗(yàn)、至少需要購(gòu)買四臺(tái)設(shè)備的狀況。集多種機(jī)型于一體的功能設(shè)計(jì)，一次性解決用戶的需求，滿足不同產(chǎn)品不同試驗(yàn)的多樣性與多變性，提高機(jī)臺(tái)忍痛將會(huì)用率和工作效率。本試驗(yàn)箱適用于對(duì)整機(jī)產(chǎn)品、元器件、零部件、材料等進(jìn)行溫度儲(chǔ)存、慢速溫度循環(huán)（3~5℃/min）、應(yīng)力篩選5~15℃/min、快速溫變（15！30℃/min、冷熱沖擊試驗(yàn)、檢驗(yàn)產(chǎn)品在試驗(yàn)過(guò)程中本身的適應(yīng)能力與特性是否改變。第種產(chǎn)品都有其自身適用的環(huán)應(yīng)力篩選方法，產(chǎn)品在試驗(yàn)過(guò)程中將受到設(shè)定的應(yīng)力作用，產(chǎn)品的各零部件、材料運(yùn)用等方面的缺陷將被提前發(fā)現(xiàn)，以便于更好的改進(jìn)產(chǎn)品的設(shè)計(jì)和應(yīng)用。
HALT應(yīng)力篩選復(fù)合試驗(yàn)箱制冷技術(shù)：傳統(tǒng)設(shè)備低溫控制方式：制冷壓縮機(jī)啟?？刂茰囟龋囟炔▌?dòng)大、嚴(yán)重影響壓縮機(jī)壽命，已淘汰的技術(shù)）制冷壓縮機(jī)恒定運(yùn)行+加熱PID控制（導(dǎo)致制冷量與加熱相抵消實(shí)現(xiàn)溫度動(dòng)態(tài)平衡，浪費(fèi)了大量的電能）新型PWM冷控制技術(shù)實(shí)現(xiàn)低溫節(jié)能運(yùn)行：低溫工作狀態(tài)，加熱器不參與工作，通過(guò)PWM技術(shù)控制調(diào)節(jié)制冷機(jī)組制冷劑流量和流向，對(duì)制冷管道、冷旁通管道、熱旁通管道三向流量調(diào)節(jié)，實(shí)現(xiàn)對(duì)工作室溫度的自動(dòng)恒定。此方式在低溫工況下，可實(shí)現(xiàn)降低40%的能耗。
該技術(shù)基于美國(guó)Sporlan公司定制型號(hào)的PWM控制閥： 感謝查詢賽思設(shè)備，選型方案敬請(qǐng)致電本公司。www.sethtest。。ｃｏｍ該技術(shù)通過(guò)電磁閥的頻繁動(dòng)作實(shí)現(xiàn)對(duì)各管道流量的調(diào)節(jié)，標(biāo)準(zhǔn)電磁閥不能適應(yīng)，會(huì)在很短時(shí)間出現(xiàn)金屬疲勞損壞，目前支持該技術(shù)的高性能閥門只有美國(guó)Sporlan公司生產(chǎn)的XM系列產(chǎn)品（該產(chǎn)品無(wú)法從正常渠道進(jìn)口），下圖為電磁閥的區(qū)別。
測(cè)試分析：
應(yīng)力篩選溫度控制范圍：
TSR(斜率可控制) |
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30℃/min→ | 電子原件焊錫可靠度、PWB的嵌入電阻&電容溫度循環(huán) MOTOROLA壓力傳感器溫度循環(huán)試驗(yàn) | ||
28℃/min→ | LED汽車照明燈 | ||
25℃/min→ | PCB的產(chǎn)品合格試驗(yàn)、測(cè)試Sn-Ag焊劑在PCB疲勞效應(yīng) | ||
24℃/min→ | 光纖連接頭 | ||
20℃/min→ | IPC－9701 、覆晶技術(shù)的溫度測(cè)試、GS-12-120、飛彈電路板溫度循環(huán)試驗(yàn) PCB暴露在外界影響的ESS 測(cè)試方法、DELL計(jì)算機(jī)系統(tǒng)&端子、改進(jìn)導(dǎo)通孔系統(tǒng)信號(hào) 比較IC包裝的熱量循環(huán)和SnPb焊接、溫度循環(huán)斜率對(duì)焊錫的疲勞壽命 | ||
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17℃/min→ | MOTO | ||
15℃/min→ | IEC 60749－25、JEDEC JESD22-A104B、MIL 、DELL液晶顯示器 電子組件溫度循環(huán)測(cè)試(家電、計(jì)算機(jī)、通訊、民用航空器、工業(yè)及交通工具、 汽車引擎蓋下環(huán)境) | ||
11℃/min→ | 無(wú)鉛CSP產(chǎn)品溫度循環(huán)測(cè)試、芯片級(jí)封裝可靠度試驗(yàn)(WLCSP) 、IC包裝和SnPb焊接、 JEDEC JESD22-A104-A | ||
10℃/min→ | 通用汽車、 JEDEC JESD22-A104B-J、GR-1221-CORE 、 CR200315 、MIL JEDEC JESD22-A104-A-條件1 、溫度循環(huán)斜率對(duì)焊錫的疲勞壽命、 IBM-FR4板溫度循環(huán)測(cè)試 | ||
5℃/min→ | 錫須溫度循環(huán)試驗(yàn) |
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型號(hào) | SER-A | SER-B | SER-C | SER-D |
內(nèi)箱尺寸 | 40×35×35 | 50×50×40 | 60×50×50 | 70×60×60 |
外箱尺寸 | 140×165×165 | 150×200×175 | 160×225×185 | 170×260×193 |
預(yù)冷、預(yù)熱范圍 | -00.00℃～-75.00℃/+60.00℃～+200.00℃ | |||
應(yīng)力沖擊范圍 | -10.00℃～-65.00℃/+60.00℃～+150.00℃ | |||
時(shí)間設(shè)定范圍 | 0 hour 1 min ～ 9999 hour 59 min/segment | |||
分辨率 | 0.01℃/min | |||
溫度均勻度 | ±3.00℃以內(nèi)（under℃3.00℃） | |||
溫度應(yīng)力變化范圍（zui小/分鐘） | +5℃～+30℃/min(+40℃) | |||
沖擊試驗(yàn)溫度 | -65℃～+150℃ ±2.00℃以內(nèi)(under ±2.00℃) | |||
三箱沖擊溫度范圍 | -55℃～+150℃ ±2.00℃以內(nèi)(under ±2.00℃) | |||