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半導體導電型號鑒別儀(測硅丹金導電型號) 型號:SHY-JSTZ-8 中慧

參  考  價:面議
具體成交價以合同協(xié)議為準

產(chǎn)品型號SHY-JSTZ-8

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廠商性質其他

所在地北京市

更新時間:2024-11-17 11:41:22瀏覽次數(shù):386次

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半導體導電型號鑒別儀是為了鑒別硅單晶材料的導電類型 “P"和 “N"的測量儀器,是采用溫差效應和整流效應兩種方法相結合綜合性的測量導電型號儀器,測量范圍廣硅材料電阻率從10 -4~10 3Ω?cm,儀器采用高靈敏度放大電路和判別電路,將材料上的微弱信號放大,并用 “P" “N"數(shù)碼直接顯示,儀器采用手持式四探然探頭,使用簡單,操作方便,且壽命長,適合半導體材料廠、器件廠和科研需要。
半導體導電型號鑒別儀(測硅丹金導電型號) 
型號:SHY-JSTZ-8
貨號:ZH8984
產(chǎn):
半導體導電型號鑒別儀是為了鑒別硅單晶材料的導電類型 “P”和 “N”的測量儀器,是采用溫差效應和整流效應兩種方法相結合綜合性的測量導電型號儀器,測量范圍廣硅材料電阻率從10 -4~10 3Ω?cm,儀器采用高靈敏度放大電路和判別電路,將材料上的微弱信號放大,并用 “P” “N”數(shù)碼直接顯示,儀器采用手持式四探然探頭,使用簡單,操作方便,且壽命長,適合半導體材料廠、器件廠和科研需要。
用作太陽能多晶材料分選時,采用整流法,對<0.1Ω-cm的材料具有聲光報警功能,應用于太陽能電池生產(chǎn)的原材料篩選環(huán)節(jié),快速。
指標:
測量范圍:硅單晶材料電阻率10 -4~10 3Ω?cm
溫 差 法:10 -4~10Ω?cm
整 流 法:10~10 3Ω?cm,并對<0.1Ω?cm的材料具有聲光報警功能。
可測量材料:半導體硅棒和硅片,及硅碎顆粒。
可測半導體材料尺寸:Φ15~Φ150 mm以上。
顯示方式:P、N 燈顯示。
測試探頭:手持式 探針間距3mm 探針Φ1mm 高速鋼
電    源:220V 50HZ 20W
儀器尺寸:100×260×260

電磁式薄膜測厚儀/膜厚計 日本 型號:ZH6918

本儀器采用了磁性測厚方法,可損的測量磁性金屬基體(如鐵、合金和硬磁性鋼

便攜式SF6氣體檢漏儀/六氟化硫氣體檢漏儀 型號:ZH6916 中慧

高精度SF6氣體檢漏儀是測量氣體泄漏的新一代產(chǎn)品,采用進口傳感器,它具

冰點計/折射儀 型號:ZH6889 中慧

測量范圍:0- -50℃(%)$r$n格 值:1℃(%)$r$n

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