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粉末x射線衍射儀原理與特點介紹
閱讀：1661 發(fā)布時間：2015-7-16
粉末x射線衍射儀是利用衍射原理,測定物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu),織構(gòu)及應力,的進行物相分析,定性分析,定量分析.廣泛應用于冶金,石油,化工,科研,航空航天,教學,材料生產(chǎn)等領(lǐng)域。
粉末x射線衍射儀可在大氣中無損分析樣品，進行物質(zhì)的定性分析、晶格常數(shù)確定和應力測定等。并且，可通過峰面積計算進行定量分析。
可通過半高寬、峰形等進行粒徑/結(jié)晶度/精密Ｘ射線結(jié)構(gòu)解析等各種分析。
•配備高精度垂直型測角儀,適用于粉末、薄膜、難于固定的樣品、易溶樣品等各種樣品的測定。
•XRD-6100具有本質(zhì)安全結(jié)構(gòu)。
•只有門連鎖機構(gòu)閉鎖時，X射線管才能開啟，具備高安全性。
•配備高速運轉(zhuǎn)（1000°/min）及高精度角度重現(xiàn)性（±0.0001°）的垂直型測角儀，可進行各種樣品的測定。
•驅(qū)動機構(gòu)為獨立2軸驅(qū)動，可選擇θ-2θ聯(lián)動或θ、2θ軸獨立驅(qū)動，特別對薄膜測定行之有效。
•備有豐富的附件（軟件/硬件）來滿足多種需要。