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形貌儀的分類(lèi)與特點(diǎn)有哪些？
形貌儀是一種能在同一測(cè)試平臺(tái)上實(shí)現(xiàn)多種材料測(cè)試的一種工具。針對(duì)不一樣的樣品，或者根據(jù)同一樣品的不同區(qū)域，或者針對(duì)同一樣品的同一區(qū)域都可以進(jìn)行不同模式的調(diào)節(jié)。目前市面上大多數(shù)使用的有白光干涉形貌儀與雙模式三維表面形貌儀，那么兩者之間哪款更好一些呢?
其實(shí)，二者不難區(qū)分，簡(jiǎn)單可以理解為雙模式三維表面形貌儀是在白光干涉形貌儀的基礎(chǔ)上的一種升級(jí)。
首先，從掃描模式上，白光干涉形貌儀間距PSI與VSI的模式，而雙模式三維表面形貌儀除了能做到這點(diǎn)之外，利用旋轉(zhuǎn)盤(pán)共焦技術(shù)，可以實(shí)現(xiàn)快速垂直掃描。
其次，雙模式三維表面形貌儀有著出色的穩(wěn)定性，無(wú)論是機(jī)器本身，或是測(cè)試出的參數(shù)、偏差值等等方面，雙模式三維表面都比白光干涉要穩(wěn)定。
雙模式三維表面形貌儀除了兼?zhèn)浒坠飧缮娴乃行阅芤酝?，還有一個(gè)明顯優(yōu)勢(shì)，那就是它具有光學(xué)形貌上高的橫向分辨率，空間下樣調(diào)整之后，甚至可以達(dá)到0.05um，在形貌測(cè)量以及測(cè)試物體表面特征的佳配置。
以上就是二者的區(qū)別所在啦，看過(guò)之后不知道對(duì)您有沒(méi)有幫助。其實(shí)，二者不能說(shuō)誰(shuí)優(yōu)誰(shuí)劣，在購(gòu)買(mǎi)時(shí)，只要挑選出適合自己的形貌儀就好。
其實(shí)，二者不難區(qū)分，簡(jiǎn)單可以理解為雙模式三維表面形貌儀是在白光干涉形貌儀的基礎(chǔ)上的一種升級(jí)。
首先，從掃描模式上，白光干涉形貌儀間距PSI與VSI的模式，而雙模式三維表面形貌儀除了能做到這點(diǎn)之外，利用旋轉(zhuǎn)盤(pán)共焦技術(shù)，可以實(shí)現(xiàn)快速垂直掃描。
其次，雙模式三維表面形貌儀有著出色的穩(wěn)定性，無(wú)論是機(jī)器本身，或是測(cè)試出的參數(shù)、偏差值等等方面，雙模式三維表面都比白光干涉要穩(wěn)定。
雙模式三維表面形貌儀除了兼?zhèn)浒坠飧缮娴乃行阅芤酝?，還有一個(gè)明顯優(yōu)勢(shì)，那就是它具有光學(xué)形貌上高的橫向分辨率，空間下樣調(diào)整之后，甚至可以達(dá)到0.05um，在形貌測(cè)量以及測(cè)試物體表面特征的佳配置。
以上就是二者的區(qū)別所在啦，看過(guò)之后不知道對(duì)您有沒(méi)有幫助。其實(shí)，二者不能說(shuō)誰(shuí)優(yōu)誰(shuí)劣，在購(gòu)買(mǎi)時(shí)，只要挑選出適合自己的形貌儀就好。