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Agilent7500回收二手安捷倫ICP-MS 電感耦合等離子體質譜ICP-MS
點擊次數：424 發(fā)布時間：2024-5-27
Agilent7500回收二手安捷倫ICP-MS 電感耦合等離子體質譜ICP-MS
電感耦合等離子體質譜-CP-MS,是一種新型的無機元素和同位素分析技術,可快速同時檢測周期表上幾乎所有元素。ICP-MS技術在分析能力上超過傳統(tǒng)的無機分析技術如電感耦合等離子體光譜技術(ICPAES)、石墨爐原子吸收(GFAAS)和汞冷原子吸收技術(CVAAS)的總和,被稱為當代分析技術
Agilent ICP-MS技術的應用領域包括:
環(huán)境樣品分析,包括自來水、地表水、地下水、海水以及各種土壤、廢棄物等的分析;·半導體材料分析
●玻璃、陶瓷和礦冶等樣品分析;●地質學研究;
●生物食品及醫(yī)藥臨床研究;●核材料分析
·石油化工樣品分析;●法醫(yī)應用與研究;
·最近,與分離技術聯用進行環(huán)境毒理、生命科學等領域的元素價態(tài)、形態(tài)分析成為ICP-MS技術應用的一個焦點。
ICP-MS分析特性:
●可快速同時檢測周期表上幾乎所有元素●*的檢出限(低至ppq級)
·分析效益/成本比*
●最寬的線性動態(tài)范圍—可直接檢測從ppq到數百ppm濃度●譜線、干擾最小,準確度和精密度好
●需要樣品量很低(ul至ml),分析速度很快(1~3分鐘/樣品)●檢測模式靈活多樣
半導體工業(yè)常用材料中超痕量污染物分析:
固體:Si;GaAa單晶切片;石英、碳化硅等爐材料;高純金屬電極等液體:超純水;HF;HNO3;HCI;H2SO4;H2O2;氨水等
氣體:SiH4;TEOS;NF3;N2等
Agilent7500回收二手安捷倫ICP-MS 電感耦合等離子體質譜ICP-MS