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優(yōu)勢(shì)供應(yīng)INGUN探針-德國(guó)測(cè)試工具

2022-8-22  閱讀(429)

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德國(guó)INGUN質(zhì)量通過(guò)精密的測(cè)試而得出的,根據(jù)這個(gè)測(cè)試,1971年一直在開發(fā)、制造和銷售各種測(cè)試設(shè)備的領(lǐng)域。德國(guó)INGUN一個(gè)全球性經(jīng)營(yíng)公司檢測(cè)設(shè)備制造和提供測(cè)試探針和測(cè)試夾具。


優(yōu)勢(shì)供應(yīng)INGUN探針-德國(guó)測(cè)試工具


INGUN探針,測(cè)試針,用于測(cè)試PCBA的一種探針。表面鍍金,內(nèi)部有平均壽命3萬(wàn)~10萬(wàn)次的高性能彈簧。目前國(guó)外比較有名的生產(chǎn)廠家有:ECT,INGUN,QA,IDI、Semiprobe探針的材質(zhì):W,ReW,A

1.目前主要采用的材質(zhì)為W,ReW,彈性一般,容易偏移,粘金屑,需要多次的清洗,磨損損針長(zhǎng),壽命一般。

2.A材質(zhì)的免清針,這種材質(zhì)彈性較好,測(cè)試中不容易偏移,并且不粘金屑,免清洗,因此壽命較長(zhǎng)。


探針?lè)诸愄结樃鶕?jù)電子測(cè)試用途可分為:A、光電路板測(cè)試探針:未安裝元器件前的電路板測(cè)試和只開路、短路檢測(cè)探針,國(guó)內(nèi)大部分的探針產(chǎn)品均可替代進(jìn)口產(chǎn)品;B、在線測(cè)試探針:

PCB線路板安裝元器件后的檢測(cè)探針;產(chǎn)品的核心技術(shù)還是掌握在國(guó)外公司手中,國(guó)內(nèi)部分探針產(chǎn)品已研發(fā)成功,可替代進(jìn)口探針產(chǎn)品;C、微電子測(cè)試探針:即晶圓測(cè)試或芯片IC檢測(cè)探針,核心技術(shù)還是掌握在國(guó)外公司手中,國(guó)內(nèi)生產(chǎn)廠商積極參與研發(fā),但只有一小部分成功生產(chǎn)。

探針主要類型:懸臂探針和垂直探針。

懸臂探針:劈刀型(B1ade Type)和環(huán)氧樹脂型(Epoxy Type)

垂直探針:垂直型(Vertical Type)


1.ICT探針(ICT series Probes)一般直徑在2.54mm-1.27mm之間,行業(yè)內(nèi)的標(biāo)準(zhǔn)稱呼100mi1,75mi1,50mi1,還有更特別的直徑只有0.19mm,主要用于在線電路測(cè)試和功能測(cè)試.

也稱ICT測(cè)試和FCT測(cè)試.也是目前應(yīng)用較多的一種探針.

2.界面探針(Interface Probes)非標(biāo)準(zhǔn)的探針,一般是為少數(shù)做大型測(cè)試機(jī)臺(tái)的客戶定做的,例如泰瑞達(dá)(Teradyne)和安捷倫(Agilent).用于測(cè)試機(jī)臺(tái)與測(cè)試夾具的接觸點(diǎn)和面.

3.微型探針(MicroSeries Probes)兩個(gè)測(cè)試點(diǎn)中心間距一般為0.25mm至0.76mm.

4.開關(guān)探針(Switch Probes)開關(guān)探針單一支探針有兩路電流.

5.高頻探針(Coaxial Probes)用于測(cè)試高頻信號(hào),有帶屏蔽圈的可測(cè)試10GHz以內(nèi)的和500MHz不帶屏蔽圈的.

6.旋轉(zhuǎn)探針(Rotator Probes)彈力一般不高,因?yàn)槠浯┩感员緛?lái)就很強(qiáng),一般用于OSP處理過(guò)的PCBA測(cè)試.

7.高電流探針(High Current Probes)探針直徑在

2.54mm-4.75mm之間.最大的測(cè)試電流可達(dá)39amps.

8.半導(dǎo)體探針(Semiconductor Probes)直徑一般在0.50mm-1.27mm之間.帶寬大于10GHz,50Q characteristic

9.電池接觸探針(Battery and Connector Contacts)一般用于優(yōu)化接觸效果,穩(wěn)定性好和壽命長(zhǎng).除以上類型外還有溫度探針,Kelvin探針等,比較少用.


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