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CDE DualMap-CDE DualMap 薄膜厚度測量儀 測厚儀
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  • CDE DualMap-CDE DualMap 薄膜厚度測量儀 測厚儀

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貨物所在地： 上海上海
產(chǎn)地： 美國
更新時間： 2025-04-18 09:45:39
有效期： 2025年4月18日--2025年10月17日
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CDE DualMap 薄膜厚度測量 測厚儀，在可靠并受廣受歡迎的ResMap 168 平臺的基礎上，CDE DualMap 集成了一套的光譜膜厚測量系統(tǒng)，從而獲得了高精度的薄膜厚度測量能力。。。。。。

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CDE DualMap 薄膜厚度測量

 

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