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SID4 NIR波前傳感器

基于Phasics四波橫向剪切干涉技術(shù)的SID NIR波前傳感器波長范圍覆蓋1.5- 1.6μm，具有超高分辨率（160x120測量點）。確保非常精確的波前測量。結(jié)構(gòu)緊湊，很容易集成到一個光學臺用于鏡頭測試或鏡頭校準。它也適用于光學表面測試。

    SID4-NIR                   光學器件測量                  自適應光學

特點：

由于其*的技術(shù)，Phasics的SID4-NIR波前傳感器具備以下特點：

1.高分辨率：160x120測量點

2.高數(shù)值孔徑測量：無需轉(zhuǎn)鏡頭

3.消色差：1.5-1.6μm

4.結(jié)構(gòu)緊湊：易于集成于光學系統(tǒng)

應用：

SID4 NIR主要應用鏡頭測試和光學系統(tǒng)校準。適用于所有的近紅外光學，如用于電信領(lǐng)域或光譜和夜視設備。

鏡頭表征：實時提供MTF和畸變數(shù)據(jù)。結(jié)構(gòu)緊湊，易于集成于試驗臺和生產(chǎn)線。

光學設備校準：它提供了一個非常準確的zui小像差測量。

SID4 NIR產(chǎn)品參數(shù)：