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斷路器回路電阻測(cè)試儀是采用典型的四線制測(cè)量法
斷路器回路電阻測(cè)試儀是采用典型的四線制測(cè)量法
斷路器回路電阻測(cè)試儀是電力系統(tǒng)工作中常用的試驗(yàn)儀器之一，目前斷路器直阻測(cè)試都是采用典型的四線制測(cè)量法，在現(xiàn)場(chǎng)試驗(yàn)時(shí)會(huì)由于電壓測(cè)試線接觸不良，出現(xiàn)錯(cuò)誤判斷甚至不能進(jìn)行測(cè)試的問題。
當(dāng)前回路電阻測(cè)試儀都是采用典型的四線制測(cè)量法，100A回路電阻測(cè)試儀用高頻開關(guān)電源產(chǎn)生大于100A的直流測(cè)試電流，施加于制造廠規(guī)定的被測(cè)體兩端，并測(cè)量電流流過被測(cè)體產(chǎn)生的壓降，采樣電路同時(shí)對(duì)電壓輸入端和內(nèi)部電流分流器電壓進(jìn)行采樣，取得的信號(hào)經(jīng)放大器放大，由A/D轉(zhuǎn)換器將模擬信號(hào)轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號(hào)后，再經(jīng)微處理器對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行濾波、運(yùn)算、處理，通過計(jì)算電壓值和電流值之比得出被測(cè)體的直流電阻值，z hui后送顯示器顯示出此次測(cè)量的繼電保護(hù)測(cè)試儀價(jià)格。并可以在當(dāng)電流測(cè)試回路出現(xiàn)斷線或接觸不良時(shí)，200A回路電阻測(cè)試儀會(huì)根據(jù)電流分流器上的電壓判斷出電流回路接觸不良或開路。
現(xiàn)有的測(cè)試方法存在著居多問題：電壓回路開路，測(cè)試現(xiàn)場(chǎng)沒有強(qiáng)電場(chǎng)干擾、電壓回路接觸不良、電壓回路開路或接觸不良（開路時(shí)可視接觸電阻R1無窮大），測(cè)試現(xiàn)場(chǎng)有較強(qiáng)的電磁干擾等問題。
根據(jù)對(duì)以上問題的分析論證發(fā)現(xiàn)，改進(jìn)四線制測(cè)量法，在典型四線制測(cè)量法的基礎(chǔ)上增加一個(gè)輔助的小電流恒流源，并通過繼電器接到典型四線制測(cè)量法的電壓V＋、V－測(cè)試線上，300A回路電阻測(cè)試儀可以*解決目前傳統(tǒng)回路電阻測(cè)試儀存在的問題。打破了長(zhǎng)期以來四線制測(cè)量法不在電壓測(cè)試線上加電流的局限，成功解決了回路電阻測(cè)試儀由于電壓線開路或接觸不良造成的虛假數(shù)據(jù)問題，并成功實(shí)現(xiàn)了智能化測(cè)量。測(cè)試時(shí)先通過繼電器接點(diǎn)將輔助恒流源接到電壓測(cè)試線的兩端，電壓測(cè)試線通過試品電阻構(gòu)成回路。當(dāng)電壓線接于斷路器端子排后，小電流恒流源若工作在恒流狀態(tài)下，則整個(gè)電壓回路的電阻比較小，400A回路電阻測(cè)試儀電壓測(cè)試端測(cè)試的電壓值較小，此時(shí)警告提示信號(hào)不啟動(dòng)，表明電壓線鉗夾與斷路器端子排接觸良好；如果電壓線接于斷路器端子排后，小電流恒流源不能工作在恒流狀態(tài)，電壓測(cè)試端測(cè)試的電壓值很大，接近小電流恒流源的開路電壓，則可以判斷電壓線接觸不良，此時(shí)啟動(dòng)警告提示信號(hào)，提醒測(cè)試人員處理接觸異常。
之后通過繼電器斷開輔助的小電流恒流源，再接通大電流恒流源給試品加電測(cè)試，通過采集電壓電流的數(shù)值，計(jì)算試品的電阻值。此時(shí)測(cè)出的數(shù)值一定是試品的真實(shí)的電阻值，杜絕了虛假數(shù)據(jù)的產(chǎn)生。即使現(xiàn)場(chǎng)有較強(qiáng)電場(chǎng)干擾，由于電壓回路中的電阻很小，感應(yīng)到電壓測(cè)試端的電壓為共模電壓，本產(chǎn)品通過電容接地的方式將這個(gè)交流共模干擾降到很低，不會(huì)對(duì)測(cè)試精度產(chǎn)生影響。
小電流恒流源還可以擊穿一些較輕微的氧化膜或油膜，600A回路電阻測(cè)試儀自動(dòng)改變接觸狀況，可以節(jié)省處理時(shí)間，提高了測(cè)試效率。以上表明自動(dòng)判斷和提示功能大大提高了測(cè)試準(zhǔn)確性和提高了生產(chǎn)效率，是現(xiàn)場(chǎng)試驗(yàn)人員快速解決問題的可靠依靠。
通過原理分析和實(shí)際應(yīng)用的檢驗(yàn)，采用改進(jìn)型四線制測(cè)量法的斷路器回路電阻測(cè)試儀，很好的解決了由于電壓線接觸不良產(chǎn)生的誤判、虛假數(shù)據(jù)等問題，使測(cè)試數(shù)據(jù)更趨于穩(wěn)定可靠，避免了原理上的原因造成的測(cè)試不準(zhǔn)確，實(shí)現(xiàn)了真正的智能化測(cè)量，是今后斷路器直阻測(cè)試的改進(jìn)方向。