如果您曾想過(guò)是否有比簡(jiǎn)單滾動(dòng)B掃描更有效的方法來(lái)進(jìn)行焊縫篩選，不妨來(lái)了解一下我們的解決方案。隨著MXU軟件的更新，我們?yōu)镺mniScan X3系列推出了創(chuàng)新的B掃描視圖，有可能改變這種耗費(fèi)時(shí)間和注意力的技術(shù)。作為一種驗(yàn)證工具，它可以讓您對(duì)評(píng)估更有信心，并幫助優(yōu)化整個(gè)B掃描篩選過(guò)程。
我們稱其為合并B掃描，原因如下：
該軟件采用您習(xí)慣的橫斷面B掃描切片，并有效地將它們疊加在一起。
然后，所有的B掃描在OmniScan X3顯示器上顯示為一個(gè)易于解釋的視圖。
合并B掃描的工作原理？
想象一下，S掃描是一個(gè)帶有透明褶皺或鰭片的折扇。合并B掃描就像合上扇子，透過(guò)所有的鰭片進(jìn)行觀察。
在標(biāo)準(zhǔn)的PAUT扇形掃描中，每個(gè)超聲軸位置（不考慮指示深度）的數(shù)據(jù)將會(huì)合并。其中的數(shù)據(jù)來(lái)源于扇形掃描中每個(gè)聲束的最大波幅和每個(gè)掃描位置（橫切片），因此潛在的指示將合并，與每個(gè)聲束的傳播軸垂直。合并B掃描是一個(gè)未校正的視圖，不涉及任何壓縮，所以沒(méi)有數(shù)據(jù)丟失。
也就是說(shuō)，在選擇使用合并B掃描時(shí)，還需要考慮其他因素。當(dāng)焊縫中指示的聲道分布不固定時(shí)，它有出色的檢測(cè)性能，這一般是自然發(fā)生的。但并不是所有的焊縫和PAUT配置都是一樣的，在某些情況下，特別是在扇形掃描覆蓋了大部分焊縫的情況下，可能會(huì)有焊縫的幾何指示出現(xiàn)在相似的聲程上。如果不進(jìn)行調(diào)整，這些條件就不是使用合并B掃描的優(yōu)化條件，但好消息是，仔細(xì)選擇用于合并的第一和最后一個(gè)聲束，可以改進(jìn)圖像，這對(duì)缺陷篩選仍有顯著效果。
相控陣超聲測(cè)試（PAUT）B掃描基礎(chǔ)知識(shí)
即使是那些熟悉B掃描的人，有時(shí)也會(huì)錯(cuò)誤地將其描述為“側(cè)視圖"。只有在談?wù)?度檢測(cè)時(shí)，這才是準(zhǔn)確的說(shuō)法（如用于壁厚測(cè)量）。當(dāng)涉及到角度聲束檢測(cè)時(shí)，這并不真正適用，例如焊接檢測(cè)中是角度聲束檢測(cè)。這是因?yàn)樵诮嵌嚷暿刃螔呙柚?，單個(gè)B掃描實(shí)際上顯示了不同的聲束，每個(gè)聲束相對(duì)于表面（或垂直于表面的深度軸）以不同角度傳播。
B掃描篩選技術(shù)通常由相控陣（PA）檢測(cè)人員教授并用于焊接檢測(cè)應(yīng)用。在進(jìn)行扇形掃描時(shí)，依次滾動(dòng)瀏覽B掃描，就像滾動(dòng)瀏覽S掃描的每個(gè)傾斜聲束實(shí)時(shí)產(chǎn)生的平面圖像。焊縫檢測(cè)人員在評(píng)估壓痕深度和確定哪些壓痕最深時(shí)，通常會(huì)應(yīng)用B掃描數(shù)據(jù)視圖。
然而，使用這種技術(shù)識(shí)別和評(píng)估缺陷通常需要集中精力，以便：
識(shí)別幫助您從幾何回波中區(qū)分出可疑缺陷的模式。
在不同的B掃描中，比較可疑缺陷的嚴(yán)重程度和深度。
合并B掃描有助于減輕所涉及的一些工作，并通過(guò)其提供的強(qiáng)大功能簡(jiǎn)化您的焊接檢測(cè)和分析過(guò)程。作為對(duì)標(biāo)準(zhǔn)B掃描篩選技術(shù)的補(bǔ)充，合并B掃描可以使您對(duì)評(píng)估充滿信心。
以下是它所提供的五大優(yōu)勢(shì)的總結(jié)：
1. 進(jìn)行更容易和更快的篩選
合并B掃描可以為檢測(cè)人員節(jié)省大量的時(shí)間和精力。由于在焊縫中檢測(cè)到的所有信號(hào)指示都可以顯示在一個(gè)數(shù)據(jù)視圖中，所以很容易一目了然地發(fā)現(xiàn)可疑的缺陷，并確認(rèn)您沒(méi)有誤解或錯(cuò)過(guò)任何東西。
由于所有的數(shù)據(jù)都呈現(xiàn)在一個(gè)視圖中，所以您可以清楚地從幾何回波和相關(guān)的漂移中區(qū)分出可疑的信號(hào)指示。
此外，通過(guò)全新改進(jìn)布局，查看合并和未合并的B掃描數(shù)據(jù)更加方便：
B-S-A單組布局顯示更大的B掃描視圖
新的A-B-S多組布局顯示多個(gè)B掃描，無(wú)需切換。組可以單獨(dú)合并或取消合并，以方便比較和解釋。
A-B-S多組布局顯示多個(gè)B掃描（合并或不合并），無(wú)需在顯示圖像之間切換。此外，每組可以單獨(dú)合并或取消合并，以方便比較和解釋數(shù)據(jù)。
2.隔離相關(guān)角度以獲得更清晰的圖像
您可以通過(guò)仔細(xì)選擇對(duì)分析有幫助的聲束，使合并B掃描圖像更加清晰。調(diào)整數(shù)據(jù)源參數(shù)中的第一個(gè)和最后一個(gè)聲束可以使可疑的指示從不相關(guān)的回波中更清楚地顯示出來(lái)。
3.驗(yàn)證缺陷篩選評(píng)估的準(zhǔn)確性
OmniScan X3的快速訪問(wèn)菜單使您能夠在標(biāo)準(zhǔn)B掃描視圖和合并B掃描之間來(lái)回切換。只需在B掃描數(shù)據(jù)顯示中按住即可打開(kāi)菜單，然后選擇使用主動(dòng)聲束和激活合并B型掃描功能。
您可以在實(shí)時(shí)采集和采集后分析中使用它。試用后，效果立現(xiàn)。您可將其作為比較B掃描數(shù)據(jù)的一種方式，并滿懷信心地驗(yàn)證您的分析。
4.毫不猶豫地確認(rèn)缺陷的深度
由于合并B掃描顯示了所有的聲束，包括顯示材料最深處的信號(hào)指示，所以您可以用它來(lái)幫助確認(rèn)最深缺陷的位置。您會(huì)注意到，對(duì)于始于遠(yuǎn)端表面的裂紋的檢測(cè)有了特別的改善。
通過(guò)定位合并B掃描的掃描光標(biāo)，可以更容易地找到這種缺陷的最深部分。然后，您可以像往常一樣，使用S掃描來(lái)完成特征分析。
5.分析和評(píng)估過(guò)去和現(xiàn)在的所有數(shù)據(jù)
合并的B掃描從飛行時(shí)間的角度“觀察"回波，不太受聲束擴(kuò)散的影響。這使得在合并B掃描中很容易確定缺陷的最深部分，并將掃描光標(biāo)置于其上。
如前所述，合并B掃描視圖可以在OmniScan X3裝置上使用，在數(shù)據(jù)采集期間和采集后，可以在裝置上或在電腦上使用OmniPC軟件。由于OmniPC軟件與所有過(guò)去和現(xiàn)在的OmniScan數(shù)據(jù)文件格式（包括.opd和.oud）兼容，當(dāng)您更新到OmniPC 5.13時(shí)，就可以將合并B掃描應(yīng)用到以前采集的數(shù)據(jù)上。這包括使用OmniScan MX2和SX探傷儀獲取的數(shù)據(jù)文件。
額外好處：緩解B掃描篩選技術(shù)的學(xué)習(xí)曲線
如果您有使用和解讀B掃描的經(jīng)驗(yàn)，那么您在適應(yīng)合并B掃描時(shí)就不會(huì)有任何問(wèn)題。由于合并B掃描顯示了所有的聲束，包括產(chǎn)生最深層信號(hào)指示的聲束，所以初學(xué)者學(xué)習(xí)B掃描篩選技術(shù)也會(huì)容易得多。
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