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[供應(yīng)]XGT型光譜中性衰減低透過率模擬器 計量儀器

貨物所在地：北京北京市

更新時間：2025-05-26 08:39:18

有效期：2025年5月26日 -- 2025年11月23日

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XGT型光譜中性衰減低透過率模擬器 計量儀器
在儀器測定波長名義值（589nm、880nm、882nm）上下10nm范圍內(nèi)，對于衰減比為10%、1%，其衰減相對變化不超過±20%。透過率光譜中性衰減模擬器的內(nèi)應(yīng)力對旋光度影響不超過儀器的最小分度示值

XGT型光譜中性衰減低透過率模擬器 計量儀器


在儀器測定波長名義值（589nm、880nm、882nm）上下10nm范圍內(nèi)，對于衰減比為10%、1%，其衰減相對變化不超過±20%。透過率光譜中性衰減模擬器的內(nèi)應(yīng)力對旋光度影響不超過儀器的最小分度示值。


技術(shù)參數(shù)

在儀器測定波長名義值（589nm、880nm、882nm）上下10 nm范圍內(nèi)，對于衰減比為10%、1%，其衰減相對變化不超過±20%。透過率光譜中性衰減模擬器的內(nèi)應(yīng)力對旋光度影響不超過儀器的最小分度示值。
































































在儀器測定波長名義值（589nm、880nm、882nm）上下10nm范圍內(nèi)，對于衰減比為10%、1%，其衰減相對變化不超過±20%。透過率光譜中性衰減模擬器的內(nèi)應(yīng)力對旋光度影響不超過儀器的最小分度示值。


技術(shù)參數(shù)

在儀器測定波長名義值（589nm、880nm、882nm）上下10 nm范圍內(nèi)，對于衰減比為10%、1%，其衰減相對變化不超過±20%。透過率光譜中性衰減模擬器的內(nèi)應(yīng)力對旋光度影響不超過儀器的最小分度示值。

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