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E+H超聲波物位計(jì)對(duì)介質(zhì)環(huán)境及測(cè)量的影響

閱讀:721        發(fā)布時(shí)間:2018-3-15

E+H超聲波物位計(jì)

廣泛用于各行業(yè)中液體,氣體和蒸汽的體積流量測(cè)量。如過(guò)熱蒸汽,飽和蒸汽,壓縮空氣,氮?dú)?,液化氣,廢氣,二氧化碳,軟化水,溶劑,鍋爐供水,冷凝物等等。蒸汽系統(tǒng)的質(zhì)量或熱量運(yùn)算可以通過(guò)渦街流量計(jì)配壓力測(cè)量、溫度測(cè)量以及計(jì)算儀構(gòu)成的能量測(cè)量系統(tǒng)準(zhǔn)確測(cè)量,有效節(jié)能,減少成本。

E+H超聲波物位計(jì)的影響

(1)介質(zhì)及環(huán)境溫度的影響

超聲波從物料表面反射時(shí),其反射頻率會(huì)受到物料溫度的影響而發(fā)生變化,為了補(bǔ)償這一變化,超聲波探頭內(nèi)裝有溫度傳感器,當(dāng)探頭向處理器發(fā)送反射信號(hào)的同時(shí),也把溫度信號(hào)送到微處理器,處理器將自動(dòng)補(bǔ)償由于溫度對(duì)料位測(cè)量的影響。

此外,為了保證探頭的可靠工作,要求環(huán)境溫度不超過(guò)60℃。

(2)攪拌器對(duì)E+H超聲波物位計(jì)測(cè)量的影響

如果物料容器內(nèi)裝攪拌器,它同樣會(huì)反射超聲波信號(hào),造成假反射回波,并被傳送到微處理器。微處理器將根據(jù)統(tǒng)計(jì)學(xué)原理處理真假面具回波,所以要求超聲波從物料表面反射的回波應(yīng)至少為從攪拌器臂反射的回波的3倍。適當(dāng)降低攪拌器的轉(zhuǎn)速,或?qū)⑻筋^偏離攪拌中心,都可以有效消除攪拌器產(chǎn)生的假面反射對(duì)料位測(cè)量的影響。

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