高低溫環(huán)境試驗(yàn)箱的校準(zhǔn)方法
高低溫環(huán)境試驗(yàn)箱的三種校準(zhǔn)方法
高低溫環(huán)境試驗(yàn)箱有(高低溫箱、高低溫試驗(yàn)箱、高低溫濕熱試驗(yàn)箱、高低溫交變實(shí)驗(yàn)箱、高低溫濕熱交變?cè)囼?yàn)箱、恒溫恒濕箱、恒溫恒濕試驗(yàn)機(jī))適用于電工、電子、儀器儀表及其它產(chǎn)品、零部件及材料在高低溫交變濕熱環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn); 是各類電子、電工、電器、塑膠等原材料和器件進(jìn)行耐寒、耐熱、耐濕、耐干性試驗(yàn)及品管工程的可靠性測(cè)試設(shè)備; 特別適用于光纖、LCD、晶體、電感、PCB、電池、電腦、手機(jī)等產(chǎn)品的耐高溫、耐低溫、耐潮濕循環(huán)試驗(yàn)。
為了確保環(huán)境試驗(yàn)性的度,我們往往需要對(duì)其的性能進(jìn)行校準(zhǔn)。目前在校準(zhǔn)的過(guò)程中,主要可以采用三種不同的方法。在實(shí)際進(jìn)行校準(zhǔn)的時(shí)候,我們需要根據(jù)實(shí)際情況選擇其中一種zui為適合的方法對(duì)環(huán)境試驗(yàn)箱進(jìn)行校準(zhǔn)。
而想要保證選擇的正確性,我們需要先對(duì)這三種不同的校準(zhǔn)方法進(jìn)行適當(dāng)?shù)牧私?,尤其要?duì)各自的優(yōu)缺點(diǎn)進(jìn)行分析和研究。下面我們就針對(duì)環(huán)境試驗(yàn)箱常用的這三種不同的校準(zhǔn)方法的優(yōu)缺點(diǎn)進(jìn)行介紹:
*種校準(zhǔn)方法主要是在零負(fù)載的情況下進(jìn)行校準(zhǔn)。相比較來(lái)說(shuō),這種方法的主要優(yōu)點(diǎn)為:能夠?qū)Νh(huán)境箱的整個(gè)工作區(qū)域進(jìn)行校準(zhǔn),能夠?qū)Νh(huán)境試驗(yàn)箱的適用性做出有效的評(píng)估。而且在更換測(cè)試樣品之后,不需要重新進(jìn)行校準(zhǔn)。
那么,這種校準(zhǔn)方法的缺點(diǎn)是什么呢?主要包括一點(diǎn),就是我們無(wú)法及時(shí)得知測(cè)試樣品會(huì)對(duì)環(huán)境試驗(yàn)箱的性能產(chǎn)生怎樣的影響。第二種校準(zhǔn)方法是在有負(fù)載的情況下進(jìn)行校準(zhǔn)。
相比較而言,這種校準(zhǔn)方法的優(yōu)點(diǎn)非常明顯,主要包括:其能夠較為準(zhǔn)確的檢測(cè)出所用測(cè)試樣品對(duì)環(huán)境試驗(yàn)箱性能的影響,而且便于得到測(cè)試樣品關(guān)鍵部位的環(huán)境試驗(yàn)的詳細(xì)信息。當(dāng)然,這種方法也有缺點(diǎn),比如在更換測(cè)試樣品之后需要重新進(jìn)行校準(zhǔn)。
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