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復疊式pct老化試驗箱針對的試驗說明：
用來評價非氣密封裝器件在水汽凝結(jié)或飽和水汽環(huán)境下抵御水汽的完整性。樣品在高壓下處于凝結(jié)的、高濕度環(huán)境中，以使水汽進入封裝體內(nèi)，暴露出封裝中的弱點，如分層和金屬化層的腐蝕。
產(chǎn)品簡介
詳細介紹
溫馨提示：
網(wǎng)上只是展示價格，由于每家客戶測試條件不一樣，所以產(chǎn)品價格也不一樣，實際成交價格，以業(yè)務溝通報價為主。本公司簽單需要線下簽合同下單，線上只支持定金支付，支付金額由本公司和客戶商量確定。
艾思荔檢測儀器
復疊式pct老化試驗箱產(chǎn)品技術(shù)參數(shù)：
控制方式：微電腦控制
內(nèi)箱尺寸：(mm)Φ240×D440
時間控制：LED顯示器
加壓時間:0.00Kg～1.04Kgcm2約45分鐘內(nèi)
壓力范圍：0~2.5Kg/cm²;(內(nèi)桶設計耐壓3.5Kg/cm2)
壓力波動：±0.02Kg
測試條件:溫度121℃,100%R.H飽和蒸氣壓力1.04Kgcm2,
立式，終尺寸請以實物為準
時間范圍:000Hr～999Hr
pct老化試驗箱滿足標準：
1、IEC60068-2-66
2、JESD22-A102-B
3、EIAJED4701
4、EIA/JESD22
5、GB/T2423、40-1997
復疊式pct老化試驗箱針對的試驗說明：
用來評價非氣密封裝器件在水汽凝結(jié)或飽和水汽環(huán)境下抵御水汽的完整性。樣品在高壓下處于凝結(jié)的、高濕度環(huán)境中，以使水汽進入封裝體內(nèi)，暴露出封裝中的弱點，如分層和金屬化層的腐蝕。該試驗用來評價新的封裝結(jié)構(gòu)或封裝體中材料、設計的更新。應該注意，在該試驗中會出現(xiàn)一些與實際應用情況不符的內(nèi)部或外部失效機制。由于吸收的水汽會降低大多數(shù)聚合物材料的玻璃化轉(zhuǎn)變溫度，當溫度高于玻璃化轉(zhuǎn)變溫度時，可能會出現(xiàn)非真實的失效模式。
外引腳錫短路：封裝體外引腳因濕氣引起之電離效應，會造成離子遷移不正常生長，而導致引腳之間發(fā)生短路現(xiàn)象。濕氣造成封裝體內(nèi)部腐蝕：濕氣經(jīng)過封裝過程所造成的裂傷，將外部的離子污染帶到芯片表面，在經(jīng)過經(jīng)過表面的缺陷如：護層針孔、裂傷、被覆不良處、、等，進入半導體原件里面，造成腐蝕以及漏電流、、等問題，如果有施加偏壓的話故障更容易發(fā)生。
艾思荔成功案例：
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