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工作范圍在可見光、近紅外以及短波紅外的電子成像探測器生成的二維電子圖像在工業(yè)、國防、安全、科研、環(huán)保、醫(yī)療等領域有著重要的應用。工作范圍在VIS/NIR波段的成像探測器幾乎全部基于硅材料的技術：彩色或者單色制式的CCD、 CMOS. ICCD、EMCCD、EBAPS、sCMOS等。彩色VIS/NIR探測器的工作波段只局限于可見光波段而單色VIS/NIR探測器的工作波段則可以達到1000nm。
InGaAs成像探測器的工作范圍在SWIR波段：非制冷類型工作在900nm-1700nm；制冷類型工作在1000nm到約2200nm以及特殊的帶寬從600nm到1700nm。
由黑硅材料研制的成像探測器在紅外波段（可到1300nm或者更長）具有更高的靈敏度，目前是市場上的新技術。
VIT測試系統(tǒng)是一個可擴展的用于測試硅成像探測器、黑硅成像探測器以及InGaAs成像探測器的測試系統(tǒng)，支持硅/黑硅/InGaAs成像探測器所有重要參數的測試。