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柳沁低溫沖擊試驗設(shè)備用途：
適用于半導(dǎo)體、電子電器零組件、化學(xué)材料、金屬材料、自動化零部件、通訊組件、國防工業(yè)、航天工業(yè)、BGA、PCB基板、電子芯片IC、及高分子材料之物理變化的理想測試設(shè)備。本設(shè)備可實際溫度定值或程序控制，柳沁采用流行的制冷控制模式，可以0%~100%自動調(diào)節(jié)壓縮機制冷功率，較傳統(tǒng)的加熱平衡控溫模式耗能減少30%。
產(chǎn)品簡介
詳細介紹
柳沁低溫沖擊試驗設(shè)備用途：
適用于半導(dǎo)體、電子電器零組件、化學(xué)材料、金屬材料、自動化零部件、通訊組件、國防工業(yè)、航天工業(yè)、BGA、PCB基板、電子芯片IC、及高分子材料之物理變化的理想測試設(shè)備。本設(shè)備可實際溫度定值或程序控制，柳沁采用流行的制冷控制模式，可以0%~100%自動調(diào)節(jié)壓縮機制冷功率，較傳統(tǒng)的加熱平衡控溫模式耗能減少30%。制冷及電控關(guān)鍵零配件均采用*，使柳沁品牌的半導(dǎo)體冷熱沖擊試驗箱與半導(dǎo)體冷熱沖擊試驗機的整體質(zhì)量和穩(wěn)定性得到了提升和保證。本公司還可以根據(jù)顧客的尺寸要求及溫度范圍定制。
滿足
GBT 2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分試驗方法 試驗A 低溫
GBT 2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗B：高溫
GBT 10592-1989高低溫試驗箱 技術(shù)條件
柳沁低溫沖擊試驗設(shè)備
技術(shù)參數(shù)：
可選擇的容積有如下：
50L內(nèi)箱尺寸為360x350x400(WxHxD)MM外尺寸以實物尺寸為準
80L內(nèi)箱尺寸為500x400x400(WxHxD)MM外尺寸以實物尺寸為準
150L內(nèi)箱尺寸為600x500x500(WxHxD)MM外尺寸以實物尺寸為準
250L內(nèi)箱尺寸為700x600x600(WxHxD)MM外尺寸以實物尺寸為準
512L內(nèi)箱尺寸為800x800x800(WxHxD)MM外尺寸以實物尺寸為準
1000L內(nèi)箱尺寸為1000x1000x1000(WxHxD)MM外尺寸以實物尺寸為準
溫度范圍：-40℃～+150℃、-55℃～+150℃、-65℃～+150℃
蓄熱箱溫度范圍：+50℃～+165℃
蓄冷箱溫度范圍：0℃ ～-75℃
試驗箱均勻度：±2℃
設(shè)備波動度：±0.5℃
溫度沖擊速率：3~5min完成
附屬功能:
預(yù)先設(shè)定試驗開始時間，試驗箱自動開始起動并準備開始試驗。
進氣口在環(huán)境溫度曝露時吸進外面的空氣。
排氣口從機械室和試驗區(qū)排出熱氣定時預(yù)定功能。
曝露時間縮短功能。
試驗區(qū)的下風溫度達到曝露溫度后轉(zhuǎn)換到下一個曝露的功能。
前處理/后處理功能。
在循環(huán)試驗開始前或結(jié)束后，試樣被曝露在高溫環(huán)境中（熱處理）維持一定時間。
干燥運轉(zhuǎn)功能。
試驗結(jié)件下運轉(zhuǎn)一定的時間。
不同溫段沖擊：由多級蒸發(fā)器結(jié)構(gòu)相應(yīng)切斷，控制蒸發(fā)面積與制冷量膨脹閥匹配，使用制冷系統(tǒng)輸出合理減少加熱器中和的輸出量，達到恒定節(jié)能；另有獨立的換氣閥門，在排氣（常溫恢復(fù)）時動作引入環(huán)境空氣。
