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利用垂直炬管減少清潔需求、縮短停機時間、降低更換頻率,輕松應對復雜樣品
閱讀:865 發(fā)布時間:2020-5-6前言使用: ICP-OES 分析樣品時,需要考慮的一個主要問題是樣品中總溶解態(tài)固體 (TDS) 的含量。許多常見樣品中含有高濃度的 TDS,例如環(huán)境實驗室常分析的土壤、污泥和鹽溶液等樣品,以及礦物、采礦和土壤實驗室日常分析的各種酸消解液和熔融物等。樣品中的 TDS 含量通常決定了使用哪種 ICP-OES 儀器進行分析。一般來說,分析 TDS 含量不超過 3% 的樣品時,通常會使用配備水平炬管的 ICP-OES 儀器。分析 TDS 含量更高的樣品時,則通常會使用帶垂直炬管的徑向觀測儀器。分析高 TDS 樣品時,還需注意要使用穩(wěn)定的射頻 (RF) 發(fā)生器系統(tǒng)以及可應對復雜樣品的炬管。
垂直炬管的優(yōu)勢:配備垂直炬管的徑向觀測儀器可以處理 TDS 含量高的樣品。然而,徑向觀測等離子體(從炬管側邊觀測等離子體)的檢測限不如軸向觀測等離子體(從炬管端口觀測等離子體,沿著等離子體的中心通道)。如需更低的檢測限,可在配備水平炬管的儀器上配備一個能應對高濃度 TDS 的特殊設計的耐高鹽炬管。但是,這種系統(tǒng)的精密度和長期穩(wěn)定性不如配備垂直炬管的系統(tǒng),而且還必須更加頻繁地清潔或更換炬管。 Agilent 5900 和 5800 ICP-OES 儀器現有的每種配置都采用了強適應性的垂直炬管,如表 1 所示。垂直炬管可幫助分析人員輕松應對包括高基質和揮發(fā)性有機溶劑在內的具挑戰(zhàn)性的樣品。垂直炬管設計確保您能以性能實現對復雜樣品的穩(wěn)定測量,清潔需求更少,停機時間更短。由于垂直炬管的使用壽命更長,因此更換次數也更少。
5900 同步垂直雙向觀測 (SVDV) ICP-OES 采用*的智能光譜組合 (DSC) 技術,能夠以低的單個樣品氬氣消耗量快速測量樣品(圖 1)。SVDV 配置可在軸向、徑向、垂直雙向觀測和同步垂直雙向觀測模式下運行。
5800 垂直雙向觀測 (VDV) ICP-OES 可實現高樣品通量。此外,如果需要更高的樣品通量,還可在現場將其全面升級為 SVDV 配置。5800 RV ICP-OES 是需要快速、高性能徑向 ICP-OES 的實驗室的理想選擇。
結論: Agilent 5900 和 安捷倫5800 ICP-OES儀器使用的強適應性垂直炬管提供了分析復雜樣品的配置,同時還實現了軸向觀測等安捷倫離子體的預期精密度。 SSRF 系統(tǒng)能夠提供可靠、穩(wěn)定且免維護的等離子體以及出色的長期穩(wěn)定性,即使棘手的樣品也是如此。使用易安裝炬管并利用 MFC 控制所有等離子體氣體,能夠省去炬管校準步驟(在分析挑戰(zhàn)性樣品時,這一步驟通常*),確保獲得一致且可重現的結果。