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 萬能試驗(yàn)機(jī)控制系統(tǒng)是控制試驗(yàn)機(jī)運(yùn)行的系統(tǒng)。人們可以通過計(jì)算機(jī)操作來控制測試機(jī)的運(yùn)行，并可以通過計(jì)算機(jī)顯示屏獲得測試機(jī)的狀態(tài)和各種測試參數(shù)。 也可以通過計(jì)算機(jī)實(shí)現(xiàn)功能和數(shù)據(jù)處理分析，打印測試結(jié)果。 測試機(jī)和計(jì)算機(jī)之間的通信通常通過多功能USB接口傳輸。 它通過計(jì)算機(jī)后面的串行端口（COM端口）進(jìn)行通信。 該技術(shù)成熟，可靠且易于使用。 計(jì)算機(jī)軟件用于收集和處理分析數(shù)據(jù)。 進(jìn)入測試界面后，計(jì)算機(jī)將連續(xù)采集各種測試數(shù)據(jù)，實(shí)時繪制測試曲線，并自動打印測試結(jié)果參數(shù)和曲線報(bào)告等。

1.萬能試驗(yàn)機(jī)隨機(jī)誤差：即在相同的條件下，對同一參數(shù)重復(fù)進(jìn)行多次測量，所得到的測定值也不可能*相同。

產(chǎn)生原因：

①在試驗(yàn)過程中，試驗(yàn)機(jī)內(nèi)摩擦力的變化

②環(huán)境濕度等的變化

2.過失誤差：由于試驗(yàn)工作中的錯誤，疏忽大意等原因引起的誤差。這種誤差是沒有規(guī)律的，需要反復(fù)核對方可避免。

產(chǎn)生原因：電子萬能試驗(yàn)機(jī)操作錯誤，試驗(yàn)人員看錯了數(shù)字，記錄時寫錯了小數(shù)點(diǎn)位置。

3.萬能試驗(yàn)機(jī)系統(tǒng)誤差：保持一定數(shù)值或者一定規(guī)律變化的誤差。系統(tǒng)誤差是有規(guī)律的，這種規(guī)律體現(xiàn)在每一次具體的試驗(yàn)中，找到這種規(guī)律，就可以加以修正。

產(chǎn)生原因：

①電阻應(yīng)變儀測量應(yīng)變時，儀器面板上的系數(shù)的誤差。

②萬能試驗(yàn)機(jī)示值不準(zhǔn)，所測得的力值總是偏大或偏小。