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在使用金屬鍍層測厚儀時(shí)的測量誤差原因有哪些呢

閱讀：1303 發(fā)布時(shí)間：2022-8-8
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　　金屬鍍層測厚儀已成為加工工業(yè)、表面工程質(zhì)量檢測的重要一環(huán)，是產(chǎn)品達(dá)到優(yōu)等質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的手段。為使產(chǎn)品化，我國出口商品和涉外項(xiàng)目中，對覆層厚度有了明確的要求。

　　金屬鍍層測厚儀的測量方法主要有、楔切法，光截法，電解法，厚度差測量法，稱重法，X射線熒光法，β射線反向散射法，電容法、磁性測量法及渦流測量法等等。它是用來測量材料及物體厚度的儀表。在工業(yè)生產(chǎn)中常用來連續(xù)或抽樣測量產(chǎn)品的厚度(如鋼板、鋼帶、薄膜、紙張、金屬箔片等材料)。

　　金屬鍍層測厚儀無法避免的測量誤差問題分析如下：

　　1、對于較薄的覆蓋層，由于受儀器本身測量精度和覆蓋層表面粗糙度的影響，較難準(zhǔn)確測量覆蓋層厚度，尤其是當(dāng)覆蓋層厚度小于5μm的情況;對于較厚的覆蓋層，其測量結(jié)果相對誤差近似為一常數(shù)，誤差隨覆蓋層厚度增加而增大。

　　2、不同鐵磁性材料或同一鐵磁性材料采用不同的熱處理方式和冷加工工藝后，其磁特性均有較大差異，而材料的磁特性差異會(huì)直接影響對長久磁鐵或檢測線圈的磁作用，為減小或消除磁特性差異產(chǎn)生的影響，應(yīng)采用磁特性與試樣基體相同或相近的金屬材料做為基體對儀器校準(zhǔn)。

　　3、由于磁場在鐵磁性基體材料中的分布狀態(tài)在一定范圍內(nèi)與基體厚度密切相關(guān)，當(dāng)基體厚度達(dá)到某臨界厚度時(shí)，這種影響才能減小或忽略。若試樣基體厚度小于臨界厚度時(shí)，應(yīng)通過化學(xué)方法除去試樣的局部覆蓋層，利用試樣基體對儀器校準(zhǔn)。

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