數(shù)字式局部放電檢測(cè)儀直銷(xiāo)價(jià)

產(chǎn)品特性：

1、局部放電是局部過(guò)熱，電器元件和機(jī)械元件老化的預(yù)兆；

2、局部放電趨勢(shì)是局放隨著時(shí)間的上升指數(shù)；

3、在絕緣結(jié)構(gòu)中產(chǎn)生局部放電時(shí)，會(huì)伴隨產(chǎn)生電脈沖、超聲波、電磁輻射、光、化學(xué)反應(yīng)，并引起局部發(fā)熱等現(xiàn)象；
由于局部放電存在以上特點(diǎn)，故電氣設(shè)備如何避免局部放電、如何去除局部放電，從而使設(shè)備正常安全運(yùn)行就成為電力設(shè)備維護(hù)人員多考慮的事情。為了去除這種潛伏性故障現(xiàn)象，目前針對(duì)伴隨局部放電而產(chǎn)生的一些電脈沖、超聲波、電磁輻射等信號(hào)而衍生出很多在線檢測(cè)局部放電現(xiàn)象的方法。

注意事項(xiàng)：

1. 在試驗(yàn)開(kāi)始加壓以前，試驗(yàn)人員必須詳細(xì)而全面地檢查一遍線路，以免線路接錯(cuò)。測(cè)試儀器處的接地線是否與接地體牢固連接，若連接不牢或在準(zhǔn)備工作時(shí)掐頭去尾線被腳踢斷，這將可能引起人身和設(shè)備事故。

2．對(duì)于連接線應(yīng)避免將*暴露在外，防止*電暈放電，尤其對(duì)于電壓等級(jí)較高的局部放電試驗(yàn)，必要時(shí)要加粗高壓連接線及加裝防電暈罩，減小因場(chǎng)強(qiáng)過(guò)高引起的電暈放電。屏蔽罩不能與試品的瓷裙相接觸。

3. 一般情況下，在試驗(yàn)過(guò)程中，被試品在耐壓、預(yù)升壓時(shí)局部放電量都比正常值大很多，此時(shí)儀器的儀表必然會(huì)超出滿刻度。為防止儀器損壞，應(yīng)將儀器的增益粗調(diào)旋鈕逆時(shí)針旋轉(zhuǎn)一檔或更多檔，以不超出滿刻度為標(biāo)準(zhǔn)。當(dāng)電壓降至測(cè)量電壓時(shí)，再將增益粗調(diào)開(kāi)關(guān)順時(shí)針旋轉(zhuǎn)一檔或更多檔，以便記錄測(cè)量值。

4. 校正電量發(fā)生器校正完畢后，一定要從高壓端脫離，并關(guān)閉電源開(kāi)關(guān)，且儀器的增益細(xì)調(diào)旋鈕不可再調(diào)。因增益粗調(diào)開(kāi)關(guān)每相鄰兩檔之間的關(guān)系是十倍，且檔位有指示，故升壓后根據(jù)放電量大小，可選擇合適量程。逆時(shí)針旋轉(zhuǎn)時(shí)，每降一檔量程擴(kuò)大十倍；反之，順時(shí)針時(shí)，量程縮小十倍。

5. 試驗(yàn)完畢后，應(yīng)對(duì)整個(gè)測(cè)試系統(tǒng)再進(jìn)行一次復(fù)查校正，驗(yàn)證是否與試驗(yàn)前所校正出的刻度系數(shù)相等，以免測(cè)試儀器或其它環(huán)節(jié)在試驗(yàn)過(guò)程中發(fā)生故障而使測(cè)試結(jié)果不對(duì)。

數(shù)字式局部放電檢測(cè)儀直銷(xiāo)價(jià)

技術(shù)參數(shù):

1．可測(cè)試品的電容量范圍6pF--250μF；2．檢測(cè)靈敏度0.002 pF

3、放大器頻帶：10kHz、20kHz、40kHz、80kHz、200kHz、300kHz任選

4、放大器增益調(diào)節(jié)：粗調(diào)六檔，檔間增益20±1 dB;細(xì)調(diào)范圍>20dB。

5、時(shí)間窗：可調(diào)范圍0°～170° , 兩個(gè)時(shí)間窗可分別開(kāi)或同時(shí)開(kāi)。

6、放電量表：對(duì)數(shù)刻度1-10-100 誤差<±5%，線性刻度0-1000 誤差<±5%

7、橢圓時(shí)基：頻率50Hz、100Hz、150Hz、200Hz、400Hz；

8、試驗(yàn)電壓表：量程：1000kV（可擴(kuò)展），1/2數(shù)字電壓表顯示，精度：優(yōu)于±5%

9、體積：502*502*210（寬*深*高）mm3

10、重量：約17kg