應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子/電池 |
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產(chǎn)品簡(jiǎn)介
詳細(xì)介紹
承試二級(jí)資質(zhì)設(shè)備清單數(shù)字式局部放電檢測(cè)儀儀器特性:
1、局部放電是局部過熱,電器元件和機(jī)械元件老化的預(yù)兆;
2、局部放電趨勢(shì)是局放隨著時(shí)間的上升指數(shù);
3、在絕緣結(jié)構(gòu)中產(chǎn)生局部放電時(shí),會(huì)伴隨產(chǎn)生電脈沖、超聲波、電磁輻射、光、化學(xué)反應(yīng),并引起局部發(fā)熱等現(xiàn)象;
由于局部放電存在以上特點(diǎn),故電氣設(shè)備如何避免局部放電、如何去除局部放電,從而使設(shè)備正常安全運(yùn)行就成為電力設(shè)備維護(hù)人員多考慮的事情。為了去除這種潛伏性故障現(xiàn)象,目前針對(duì)伴隨局部放電而產(chǎn)生的一些電脈沖、超聲波、電磁輻射等信號(hào)而衍生出很多在線檢測(cè)局部放電現(xiàn)象的方法。
承試二級(jí)資質(zhì)設(shè)備清單數(shù)字式局部放電檢測(cè)儀注意事項(xiàng):
1. 在試驗(yàn)開始加壓以前,試驗(yàn)人員必須詳細(xì)而全面地檢查一遍線路,以免線路接錯(cuò)。測(cè)試儀器處的接地線是否與接地體牢固連接,若連接不牢或在準(zhǔn)備工作時(shí)掐頭去尾線被腳踢斷,這將可能引起人身和設(shè)備事故。
2.對(duì)于連接線應(yīng)避免將*暴露在外,防止*電暈放電,尤其對(duì)于電壓等級(jí)較高的局部放電試驗(yàn),必要時(shí)要加粗高壓連接線及加裝防電暈罩,減小因場(chǎng)強(qiáng)過高引起的電暈放電。屏蔽罩不能與試品的瓷裙相接觸。
3. 一般情況下,在試驗(yàn)過程中,被試品在耐壓、預(yù)升壓時(shí)局部放電量都比正常值大很多,此時(shí)儀器的儀表必然會(huì)超出滿刻度。為防止儀器損壞,應(yīng)將儀器的增益粗調(diào)旋鈕逆時(shí)針旋轉(zhuǎn)一檔或更多檔,以不超出滿刻度為標(biāo)準(zhǔn)。當(dāng)電壓降至測(cè)量電壓時(shí),再將增益粗調(diào)開關(guān)順時(shí)針旋轉(zhuǎn)一檔或更多檔,以便記錄測(cè)量值。
4. 校正電量發(fā)生器校正完畢后,一定要從高壓端脫離,并關(guān)閉電源開關(guān),且儀器的增益細(xì)調(diào)旋鈕不可再調(diào)。因增益粗調(diào)開關(guān)每相鄰兩檔之間的關(guān)系是十倍,且檔位有指示,故升壓后根據(jù)放電量大小,可選擇合適量程。逆時(shí)針旋轉(zhuǎn)時(shí),每降一檔量程擴(kuò)大十倍;反之,順時(shí)針時(shí),量程縮小十倍。
5. 試驗(yàn)完畢后,應(yīng)對(duì)整個(gè)測(cè)試系統(tǒng)再進(jìn)行一次復(fù)查校正,驗(yàn)證是否與試驗(yàn)前所校正出的刻度系數(shù)相等,以免測(cè)試儀器或其它環(huán)節(jié)在試驗(yàn)過程中發(fā)生故障而使測(cè)試結(jié)果不對(duì)。
干擾問題:
在局部放電測(cè)試中,往往由于外部干擾信號(hào)的影響,而使測(cè)試結(jié)果產(chǎn)誤判斷,或者使測(cè)試工作根本無(wú)法進(jìn)行下去。尤其對(duì)從事局部放電測(cè)試工作經(jīng)驗(yàn)不多的人,更容易引起誤判斷。因此,在局部放電測(cè)試技術(shù)中,消除外部干擾成為一項(xiàng)很重要的技術(shù)內(nèi)容,同時(shí)也是花錢較多的一項(xiàng)技術(shù)措施。
(一) 外來干擾
1.與電源電壓無(wú)關(guān)的干擾
這種干擾與電源電壓(加至被試品上的電壓)無(wú)關(guān),它不隨電源電壓的升高或降低而變化。它產(chǎn)生于:電氣開關(guān)的開閉操作、電焊起弧、吊車開動(dòng)、整流電機(jī)的電刷、閃光燈、無(wú)線電電磁波以及各種工業(yè)干擾等等。這些干擾通過電源、測(cè)試回路和地線等途徑侵入進(jìn)來。
2. 電源電壓有關(guān)的干擾
這類干擾一般隨電源電壓的增加而變大。它可由試區(qū)內(nèi)各個(gè)部分產(chǎn)生。例如:試驗(yàn)變壓器、高壓引線、試品端部、高壓線路接觸不良、高壓試區(qū)的絕緣物體與地線(或接地金屬物)接觸、試區(qū)內(nèi)金屬物體接地不良、以及其它物體的感應(yīng)放電等等。與電源電壓有關(guān)的干擾的侵入途徑,可以通過電源、高壓導(dǎo)線、空間和地線侵入到測(cè)試回路內(nèi)。
(二)消除外來干擾的方法
1. 消除與電源電壓無(wú)關(guān)的干擾方法:應(yīng)從電源、空間、接地方式幾個(gè)方面采取措施。為了消除空間電磁波的干擾,應(yīng)將試驗(yàn)室加以屏蔽。對(duì)于由電源侵入的干擾,一般在電源進(jìn)口處加隔離變壓器和濾波裝置。消除由接地網(wǎng)來的干擾,應(yīng)采取一點(diǎn)接地方式。
2. 消除與電源有關(guān)的干擾措施:可將高壓導(dǎo)線加粗(用較粗的蛇皮管、薄鐵皮圓筒或鋁筒);對(duì)被試品端部加防暈罩;試區(qū)內(nèi)各地線和金屬物應(yīng)良好接地;試區(qū)內(nèi)的絕緣物體嚴(yán)禁與金屬接地體接觸;在高壓線下部地面上不應(yīng)有螺釘、地線頭等金屬物體。
技術(shù)參數(shù):
1.可測(cè)試品的電容范圍:6pF~250uF
2.檢測(cè)靈敏度及允許電流(見表1)。
3.橢圓掃描時(shí)基
(1) 頻率:50、100、150、200、400Hz
(2) 旋轉(zhuǎn):以30度為一檔,可旋轉(zhuǎn)120度。
(3) 工作方式:標(biāo)準(zhǔn)-擴(kuò)展-直線。
(4) 高頻時(shí)基橢圓的輸入電壓范圍:13~275V。
4.顯示單元
采用100×80mm矩形示波管,有亮度與聚焦調(diào)節(jié)旋鈕。
5.放大器
(1) 3dB低頻端頻fL:20、40KHz任選。
(2) 3dB高頻端頻率fH:200、300KHz任選。
(3) 增益調(diào)節(jié):粗調(diào)6檔,檔間增益差10倍±5%。
(4) 細(xì)調(diào)范圍:>10倍。
(5) 正、負(fù)脈沖響應(yīng)不對(duì)稱性:<5%。
6.時(shí)間窗
(1) 窗寬:5度~150度(50Hz) 連續(xù)可調(diào)。
(2) 窗位置:每一窗可旋轉(zhuǎn)0度~170度。
(3) 兩個(gè)時(shí)間窗可分別或同時(shí)控制。
7、脈沖峰值表
(1) 線性指示:0~10*不大于5%。
指示:1~10*不大于5%。
表1 檢測(cè)靈敏度及輸入單元允許電流值
輸入單元序號(hào) | 調(diào)電容范圍 | 靈敏度(PC) (不平衡電路) | 允許電流有效值 | |
不平衡電路 | 平衡電路 | |||
1 | 6-25-100微微法 | 0.02 | 30mA | 0.25A |
2 | 25-100-400微微法 | 0.04 | 60mA | 0.5A |
3 | 100-400-1500微微法 | 0.06 | 120mA | 1A |
4 | 400-1500-6000微微法 | 0.1 | 0.25A | 2A |
5 | 1500-6000-25000微微法 | 0.2 | 0.5A | 4A |
6 | 0.006-0.025-0.1微法 | 0.3 | 1A | 8A |
7 | 0.025-0.1-0.4微法 | 0.5 | 2A | 15A |
8 | 0.1-0.4-1.5微法 | 1 | 4A | 30A |
9 | 0.4-1.5-6.0微法 | 1.5 | 8A | 60A |
10 | 1.5-6.0-25微法 | 2.5 | 15A | 120A |
11 | 6.0-25-60微法 | 5 | 25A | 200A |
12 | 25-60-250微法 | 10 | 50A | 300A |
7R | 電阻 | 0.5 | 2A | 15A |