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微電子超純水應(yīng)用中總有機(jī)碳 TOC 監(jiān)測(cè)的操作、校準(zhǔn)和自動(dòng)歸零的指導(dǎo)

閱讀:1769      發(fā)布時(shí)間:2020-4-21
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 在微電子超純水(UPW)應(yīng)用中,水系統(tǒng)中的總有機(jī)碳(TOC)濃度極低,通常為亞 ppb 級(jí)。本文介紹如何優(yōu)化微電子超純水應(yīng)用中的在線總有機(jī)碳分析,包括操作步驟指導(dǎo)。蘇伊士等廠商生產(chǎn)的分析儀,檢測(cè)限均在 0.02 0.03 ppb 之間。典型的超純水系統(tǒng)的 TOC 濃度在 0.2 0.4 ppb 之間,或者說(shuō)僅比分析儀的檢測(cè)限高一個(gè)數(shù)量級(jí)。當(dāng)要測(cè)量的 TOC 濃度非常接近分析儀的檢測(cè)*,我們可以優(yōu)化分析儀的性能以獲得理想的測(cè)量結(jié)果,但此時(shí)的校準(zhǔn)方法必需有別于測(cè)量高 TOC 時(shí)所采用的校準(zhǔn)方法。

硬件選擇

蘇伊士專(zhuān)門(mén)為微電子應(yīng)用設(shè)計(jì)了兩款 TOC分析儀— Sievers* M9e   500 RLe。雖然這兩款分析儀有著相似的低濃度測(cè)量性能,但 Sievers M9e 使用酸劑和氧化劑,因而能測(cè)量 2.5 ppm2.5 ppm Sievers 500 RLe 的測(cè)量上限)以上的 TOC 值,還能測(cè)量高IC值,或測(cè)量 pH 不是中性的水樣。酸劑和氧化劑會(huì)向樣品中引入痕量有機(jī)物,本文稍后介紹對(duì)此的空白校正程序。如果不是特別需要使用酸劑和氧化劑,我們建議您在應(yīng)用中使用 Sievers 500 RLe 分析儀。

Sievers 500 RLe  有兩種配置可供選擇 — “集成在線取樣器(iOS,Integrated On-line Sampler不銹鋼取樣塊(Stainless Steel Sample BlockiOS 可以進(jìn)行在線測(cè)量,并能在不切斷樣品連接的情況下將吸樣樣品或參考標(biāo)樣送入分析儀,非常便捷。iOS 對(duì)校準(zhǔn)和確認(rèn)校準(zhǔn)特別有用。 

由于后面提到的原因,對(duì)于測(cè)量低 ppb 和亞 ppb TOC 分析儀來(lái)說(shuō),傳統(tǒng)的校準(zhǔn)意義不大。因此,我們建議在低 ppb 和亞 ppb 應(yīng)用中使用配置不銹鋼取樣塊的 Sievers 500 RLe。取樣塊不僅能降低儀器成本,而且能形成更適合低 ppb 和亞 ppb 應(yīng)用的封閉式取樣系統(tǒng)。

校準(zhǔn)和自動(dòng)歸零

影響分析儀校準(zhǔn)的兩個(gè)因素是增益(gain偏移(offset。增益影響校準(zhǔn)曲線的斜率,偏移影響校準(zhǔn)曲線通過(guò)零點(diǎn)的位置。這兩種因素對(duì)儀器分析性能的影響力的大小取決于超純水系統(tǒng)的 TOC 濃度和分析儀的測(cè)量范圍之間的關(guān)系。超純水系統(tǒng)的 TOC 濃度越接近分析儀的檢測(cè)限(或接近于零),自動(dòng)歸零在優(yōu)化分析儀性能時(shí)所起的作用就越大,而校準(zhǔn)的作用就越小(見(jiàn)1)。





1TOC 校準(zhǔn)

 

可以用低 ppb 或亞 ppb TOC 校準(zhǔn)標(biāo)樣來(lái)校準(zhǔn)要測(cè)量的范圍嗎?用于制備校準(zhǔn)標(biāo)樣的樣瓶,即便經(jīng)過(guò)嚴(yán)格的清潔,認(rèn)證的 TOC 都僅低于 10 ppb,因此無(wú)法用于制備亞 ppb 校準(zhǔn)標(biāo)樣。此外,樣瓶和校準(zhǔn)標(biāo)樣的制備過(guò)程會(huì)給標(biāo)樣帶來(lái) TOC 誤差(通常會(huì)增加幾個(gè) ppb TOC),因此校準(zhǔn)標(biāo)樣僅在稱(chēng)重誤差和測(cè)量誤差以忽略不計(jì)的幾百 ppb 上的范圍有效。當(dāng)分析儀在校準(zhǔn)點(diǎn)附近工作時(shí),調(diào)整上述濃度(如 1 ppm 校準(zhǔn))下的校準(zhǔn)(增益)會(huì)對(duì)報(bào)告結(jié)果的準(zhǔn)確性產(chǎn)生正面影響,但當(dāng)分析儀在低于校準(zhǔn)點(diǎn)幾個(gè)數(shù)量級(jí)的濃度(接近于零)下工作時(shí),調(diào)整校準(zhǔn)就對(duì)報(bào)告結(jié)果的影響非常小。  

從圖1中可以看出,將校準(zhǔn)曲線移至較壞情況的校準(zhǔn)上限或下*,對(duì)亞 ppb 下的儀器響應(yīng)沒(méi)有影響。

TOC動(dòng)歸零

在低濃度下,改變零點(diǎn)或偏移對(duì)儀器性能的影響較大,能保證測(cè)量的可靠性,有利于 儀器到儀器的一致性(見(jiàn)2)。



2TOC 自動(dòng)歸零

Sievers M9e  500 RLe 用自動(dòng)歸零Auto-Zero)來(lái)確保分析儀在沒(méi)有 TOC 的情況下報(bào)告為零。分析儀的手冊(cè)對(duì)自動(dòng)歸零有詳細(xì)的說(shuō)明。自動(dòng)歸零非常有用,能夠幫助優(yōu)化分析儀的低 TOC 測(cè)量性能,并有利于達(dá)到儀器到儀器的一致性。

Sievers M9e  500 RLe TOC動(dòng)歸零策略

在漂洗新安裝的分析儀或進(jìn)行維護(hù)工作時(shí),分析儀的零點(diǎn)都會(huì)受影響。水系統(tǒng)的特性(例如水系統(tǒng)中的無(wú)機(jī)碳含量)也會(huì)對(duì)零點(diǎn)產(chǎn)生較小影響。因此,我們建議進(jìn)行以下自動(dòng)歸零過(guò)程,以保持分析儀的較佳性能:

· 在安裝新分析儀后的漂洗期間,應(yīng)每天運(yùn)行自動(dòng)歸零,運(yùn)行一周左右。在第一周之后到第一個(gè)月結(jié)束前,每周運(yùn)行一次自動(dòng)歸零。在第一個(gè)月之后,每月運(yùn)行一次自動(dòng)歸零,并保持此運(yùn)行頻率,因?yàn)?/span>預(yù)計(jì)以后不會(huì)有明顯變化。

· 
在進(jìn)行日常維護(hù)(包括更換紫外燈、樣品管、去離子樹(shù)脂盒等)之后,應(yīng)漂洗分析儀一整天,然后進(jìn)行自動(dòng)歸零。此時(shí)無(wú)需進(jìn)行校準(zhǔn)。如果此時(shí)進(jìn)行校準(zhǔn),校準(zhǔn)雖沒(méi)有壞處,但也沒(méi)有好處,還會(huì)延長(zhǎng)預(yù)防維護(hù)post-PM, post-Preventative Maintenance)的漂洗時(shí)間,因?yàn)橄到y(tǒng)需要時(shí)間從接觸 PPM 濃度的校準(zhǔn)標(biāo)樣后恢復(fù)過(guò)來(lái)。在進(jìn)行初次預(yù)防維護(hù)自動(dòng)歸零之后,可以在一周后重復(fù)運(yùn)行自動(dòng)歸零程序,然后恢復(fù)到典型的每月自動(dòng)歸零常規(guī)操作。

· 如果將分析儀移動(dòng)到新位置,應(yīng)在讀數(shù)穩(wěn)定后運(yùn)行自動(dòng)歸零。與日常維護(hù)一樣,可以在一周后再次運(yùn)行自動(dòng)歸零,然后恢復(fù)典型的每月自動(dòng)歸零常規(guī)操作。

· 如果進(jìn)行了重要的維修工作(即更換主要部件),應(yīng)在維修后進(jìn)行校準(zhǔn),以確保分析儀的基本性能不變。對(duì)于配置了不銹鋼取樣塊的分析儀,可以臨時(shí)安裝 iOS 以便進(jìn)行校準(zhǔn)。Sievers 維修技術(shù)人員都經(jīng)過(guò)培訓(xùn),具備執(zhí)行此項(xiàng)服務(wù)的能力。

Sievers M9e  500 RLe 分析儀的電導(dǎo)率自動(dòng)歸零

Sievers M9e  500 RLe 也具有電導(dǎo)率自動(dòng)歸零功能。 TC IC 通道的溫度和電導(dǎo)池只接觸到含有少量 CO2 的去離子水,因而無(wú)需針對(duì)電導(dǎo)率的增加而進(jìn)行校準(zhǔn)。隨著時(shí)間推移,當(dāng)離子污染物從電導(dǎo)池浸出時(shí),電導(dǎo)池的偏移就會(huì)發(fā)生變化。電導(dǎo)率自動(dòng)歸零校準(zhǔn)任務(wù)能夠調(diào)整 TC IC 池的偏移。

TOC 自動(dòng)歸零不同,電導(dǎo)率自動(dòng)歸零無(wú)需經(jīng)常進(jìn)行。我們建議在診斷負(fù) TOC 值時(shí)運(yùn)行電導(dǎo)率自動(dòng)歸零。只可由技術(shù)支持或現(xiàn)場(chǎng)服務(wù)工程師來(lái)運(yùn)行電導(dǎo)率自動(dòng)歸零。

Sievers M9e TOC 分析儀試劑空白 

不使用試劑的 Sievers 500 RLe 于測(cè)量亞 ppb 級(jí)的 TOC 值。Sievers M9e 常用于高 TOC 應(yīng)用,包括需要添加氧化劑來(lái)測(cè)量 ppm 級(jí)的 TOC 應(yīng)用或需要酸化樣品和去除 IC 的高濃度無(wú)機(jī)碳的系統(tǒng)監(jiān)測(cè)。在有些應(yīng)用中,樣品的 TOC 很低,但電導(dǎo)率或 IC 很高,這時(shí)就需要使用 Sievers M9e 的功能來(lái)進(jìn)行理想的 TOC 測(cè)量。  

超純水應(yīng)用無(wú)需使用氧化劑,本文討論的操作程序只適用于酸劑。Sievers M9e 使用電子級(jí)酸劑,但電子級(jí)酸劑也會(huì)向樣品中引入痕量的有機(jī)污染物,這些有機(jī)物對(duì)低濃度讀數(shù)的影響雖小,但仍不可忽視。Sievers M9e(固件1.06及更高版本)帶有自動(dòng)酸劑空白Reagent Blank)程序,能測(cè)量酸劑實(shí)際產(chǎn)生的有機(jī)污染物的量,并根據(jù)所選流量來(lái)應(yīng)用偏移量,從而將有機(jī)污染物從報(bào)告的 TOC 值中扣除。 

各個(gè)酸劑盒所產(chǎn)生的痕量有機(jī)污染物稍有不同,每次在安裝新酸劑盒后,都需要運(yùn)行試劑空白程序。

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