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北京康高特儀器設(shè)備有限公司
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美國(guó)HVI美高測(cè) TD-65E超低頻耐壓測(cè)試儀

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產(chǎn)品型號(hào)

品       牌其他品牌

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所  在  地北京市

更新時(shí)間:2025-05-07 16:08:05瀏覽次數(shù):236次

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電工儀表
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產(chǎn)地類別 進(jìn)口 應(yīng)用領(lǐng)域 能源,電子/電池,道路/軌道/船舶,電氣,綜合
美國(guó)HVI美高測(cè) TD-65E超低頻耐壓測(cè)試儀 本產(chǎn)品適用于額定電壓 35kV 電纜的介損電橋診斷測(cè)試.現(xiàn)在熱賣中,如需購(gòu)買,可通過客服熱線聯(lián)系我們!

美國(guó)HVI美高測(cè) TD-65E超低頻耐壓測(cè)試儀 本產(chǎn)品適用于額定電壓 35kV 電纜的介損電橋診斷測(cè)試.現(xiàn)在熱賣中,如需購(gòu)買,可通過客服熱線聯(lián)系我們!

 

美國(guó)HVI美高測(cè) TD-65E超低頻耐壓測(cè)試儀簡(jiǎn)介:

TD-65E 介損電橋設(shè)計(jì)用于通過 XBee 協(xié)議與 VLF-34E 或 VLF-65E 進(jìn)行無線通信并協(xié)同工作,以形成一個(gè)完整的電纜診斷系統(tǒng)。該系統(tǒng)具備*端功能,如無線通信、數(shù)據(jù)采集,并且可使用隨附的 E-Link PC 軟件生成報(bào)告。它旨在按照世界標(biāo)準(zhǔn)(IEEE 400、IEEE 400.2、IEEE 433、DIN VDE 0276、CENELEC HD620 S1、NEETRAC CDFI 等),對(duì) 5 至 35kV 的一次電纜進(jìn)行介損(Tan Delta,也稱為 Tan δ、損耗因數(shù)或損耗角)測(cè)試。介損測(cè)試是一種非破壞性診斷測(cè)試,用于測(cè)量屏蔽中壓 / 高壓電纜絕緣的劣化程度。測(cè)試結(jié)果能夠揭示絕緣層的污染、損壞情況或水樹分布狀況。介損測(cè)試是在停電電纜上進(jìn)行的離線測(cè)試,使用交流電源,在本案例中是使用非常低頻(0.1Hz)的高壓發(fā)生器為電纜提供測(cè)試電壓,同時(shí)介損電橋記錄測(cè)試結(jié)果。測(cè)試過程中會(huì)逐步升高測(cè)試電壓,并監(jiān)測(cè)讀數(shù),以避免在介損數(shù)值表明電纜嚴(yán)重劣化時(shí)可能出現(xiàn)的電纜故障。



技術(shù)參數(shù):

型號(hào)

TD-65E



輸入

需要兩節(jié)堿性 “D" 型電池 —— 也可使用四節(jié)可充電 “D" 型電池(不含)

測(cè)量范圍

電壓:1 - 65kVp(46kVrms),精度 ±1%,分辨率 0.1kV
電流:0 - 150mAp(106mArms),精度 ±1%,分辨率 1μA
介質(zhì)損耗角正切:0.1Hz - 0.01Hz,5nF - 10μF,精度 1.0×10??,分辨率 1.0×10??

PC 接口

XBee 802.15.4(無線,約 30 英尺傳輸距離)

PC 軟件

E-Link 遠(yuǎn)程控制和報(bào)告生成軟件

互連電纜

88-5061 - 用于 VLF-34E 的 20 英尺 / 6.1 米輸出電纜
81-5220 - 用于 VLF-65E(序列號(hào) 1000 - 1285 )的 20 英尺 / 6.1 米輸出電纜
88-514 - 用于 VLF-65E(序列號(hào) 1286 及更高)的 20 英尺 / 6.1 米輸出電纜

隨附電纜

10 英尺 / 3 米帶紅色香蕉插頭的 TD 輸出引線、20 英尺 / 6.1 米黃綠測(cè)試引線、2 英寸 / 51 毫米 ×5 英寸 / 127 毫米環(huán)形線圈、帶香蕉插座的 1.5 英寸 / 38 毫米鋁球

尺寸

TD 傳感器(帶三腳架):7 英寸 / 152 毫米 ×8 英寸 / 203 毫米 ×18 英寸 / 457 毫米
TD 攜帶箱:22.5 英寸 / 572 毫米 ×15 英寸 / 381 毫米 ×11.75 英寸 / 298 毫米

重量

TD 傳感器(帶三腳架):7 磅 / 3.2 千克
TD(含攜帶箱和配件袋):40 磅 / 18.14 千克

美國(guó)HVI美高測(cè) TD-65E超低頻耐壓測(cè)試儀




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