微型探針臺(tái)尺寸小、重量輕，具備變溫測(cè)試及真空測(cè)試功能，適用于科研工作，也適用于與其他儀器聯(lián)用，是一款非常有特點(diǎn)的微探針系統(tǒng)。
鄭科探真空探針臺(tái)主要應(yīng)用于傳感器，半導(dǎo)體，光電，集成電路以及封裝的測(cè)試。 廣泛應(yīng)用于復(fù)雜、高速器件的精密電氣測(cè)量的研發(fā)，旨在確保質(zhì)量及可靠性，并縮減研發(fā)時(shí)間和器件制造工藝的成本。
儀器特點(diǎn)：
工作距離短、尺寸小，帶有視窗，可以與各種顯微鏡聯(lián)用；
配備真空腔，有優(yōu)異的氣密性；
應(yīng)用領(lǐng)域：
與拉曼光譜聯(lián)用；
電致發(fā)光或熒光光譜測(cè)試(EL, PL)；
氣體傳感器(氣敏測(cè)試)；
金屬-絕緣體相變；
光電流掃描；
I-V測(cè)試；
場(chǎng)效應(yīng)晶體管測(cè)試；
熱傳導(dǎo)測(cè)試；
熱磁滯研究；
鐵電疇轉(zhuǎn)換觀(guān)測(cè)；
反射率測(cè)試；
霍爾效應(yīng)測(cè)試；
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