三通道局部放電監(jiān)測(cè)儀系統(tǒng)

性能特點(diǎn)：

1.具有檢測(cè)靈敏度高，適用試品范圍廣，信噪比高等特點(diǎn)。

2.采用大屏幕示波管，試驗(yàn)波形顯示清晰，有高頻橢圓掃描（攝取功率小于1伏安），放大系統(tǒng)動(dòng)態(tài)范圍大，頻帶組合多（九種），有輔助零標(biāo)系統(tǒng)，有線性、對(duì)數(shù)雙功能指針式表頭和數(shù)字式表頭，可同時(shí)顯示放電脈沖的放電量。

3. 是研究、開(kāi)發(fā)新型高電壓電工產(chǎn)品和提高產(chǎn)品質(zhì)量的有力輔助工具，也是現(xiàn)場(chǎng)判斷設(shè)備正常與否的有效測(cè)試儀器。

4. 校正脈沖發(fā)生器配合使用，尤其適合電力部門(mén)、生產(chǎn)制造廠家和科研單位。

系統(tǒng)工作原理：

若試品Ｃa在試驗(yàn)電壓下產(chǎn)生局部放電時(shí)，經(jīng)耦合電容Cｋ產(chǎn)生脈沖電流，由輸入單元拾取得脈沖訊號(hào)，經(jīng)低噪聲前置放大、濾波放大器選擇所需頻帶及主放放大后，在示波屏的橢圓掃描基線上顯示出放電脈沖，同時(shí)也送到脈沖峰值表（對(duì)數(shù)表）顯示其峰值。時(shí)間窗單元控制試驗(yàn)電壓每一周期內(nèi)脈沖峰值表的工作時(shí)間，并在這段時(shí)間內(nèi)將顯示屏的顯示加亮，寬度與位置可以改變，進(jìn)一步加強(qiáng)了抗*力。

三通道局部放電監(jiān)測(cè)儀系統(tǒng)

操作環(huán)境要求: 

當(dāng)使用手持式局部放電檢測(cè)儀的TEV 測(cè)量模式時(shí)，必須遵守以下幾點(diǎn)：  
(1) 在空間窄小的角落中工作時(shí)，必須小心謹(jǐn)慎，因?yàn)榕R近其它的接地體30cm或以下會(huì)影響讀數(shù)的精度。 
(2) 從高頻無(wú)線通訊工具shou機(jī)、RF 發(fā)射機(jī)、視頻顯示器以及無(wú)屏蔽的高頻電子器件產(chǎn)生的直流至 1 GHz 頻率范圍內(nèi)的強(qiáng)烈電磁干擾可以影響讀數(shù)。將多功能局部放電檢測(cè)儀放在自然空氣中離開(kāi)任何導(dǎo)電表面至少1米處就可以測(cè)量本地電磁場(chǎng)。 
注:TEV模式即選擇地電壓測(cè)量模式; 超聲波模式即選擇超聲波測(cè)量模式

常用的名詞術(shù)語(yǔ)：

（1）局部放電
局部放電是指在絕緣的局部位置放電，它并不構(gòu)成整個(gè)絕緣的貫通性擊穿。它包含三種放電形式：內(nèi)部放電（在介質(zhì)內(nèi)部）、沿面放電（在介質(zhì)表面）、電暈放電（在電極）。
（2）電荷量q
在試品兩端瞬時(shí)注入一定電荷量，使試品端電壓的變化和由局部放電本身引起的端電壓的變化相同，此注入量即為局部放電的視在電荷量。
（3）視在放電量校準(zhǔn)器
視在放電量校準(zhǔn)器是一標(biāo)準(zhǔn)電量發(fā)生器，試驗(yàn)前它以輸出某固定電量加之試品兩端，模擬該試品在此電量下放電時(shí)局部放電測(cè)試儀的響應(yīng)，此時(shí)調(diào)整刻度系數(shù)，確定局部放電檢測(cè)儀的量程，以便在試驗(yàn)時(shí)測(cè)量該試品在額定電壓下的視在放電量。因該放電量時(shí)以標(biāo)準(zhǔn)電量發(fā)生器比較后間接測(cè)出，而非直接測(cè)出，故此放電量稱(chēng)為“視在放電量”。
校正電量發(fā)生器是測(cè)量局部放電時(shí)*的儀器，它的性能參數(shù)直接關(guān)系到測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性。
視在放電量校準(zhǔn)器由校準(zhǔn)脈沖電壓發(fā)生器和校準(zhǔn)電容串聯(lián)組成，其參數(shù)主要包括：脈沖波形上升時(shí)間、衰減時(shí)間、內(nèi)阻、脈沖峰值、校準(zhǔn)電容值等。
校準(zhǔn)脈沖電壓發(fā)生器電壓波形上升時(shí)間為從0.1U0到0.9U0的時(shí)間，衰減時(shí)間定義為從峰值下降到0.1U0的時(shí)間。
（4）檢測(cè)阻抗
檢測(cè)阻抗是拾取檢測(cè)信號(hào)的裝置，在使用中，應(yīng)根據(jù)不同的測(cè)試目的，被試品的種類(lèi)來(lái)選擇合適的檢測(cè)阻抗，以提高局部放電測(cè)量的靈敏度、分辨能力、波形特性及信噪比。
（5）時(shí)間窗(門(mén)單元)
時(shí)間窗是為防止大于局部放電的干擾信號(hào)進(jìn)入峰值檢波電路而設(shè)計(jì)的一種電路裝置。因在實(shí)際試驗(yàn)時(shí)，尤其是在現(xiàn)場(chǎng)做試驗(yàn)時(shí)，不可避免地會(huì)引入一些干擾，所以，時(shí)間窗的使用更顯得重要。