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直讀光譜儀結(jié)構(gòu)與原理的簡(jiǎn)介

閱讀:1345        發(fā)布時(shí)間:2021-5-31

直讀光譜儀通過發(fā)出各元素特征的光譜的強(qiáng)度而對(duì)樣品進(jìn)行分析的一種儀器。目前無論國(guó)內(nèi)還是國(guó)外的光電直讀光譜儀,基本可按照功能分為4個(gè)模塊,即: 

    A、激發(fā)系統(tǒng):任務(wù)是通過各種方式使固態(tài)樣品充分原子化,并放出各元素的發(fā)射光譜光。  

    B、光學(xué)系統(tǒng):對(duì)激發(fā)系統(tǒng)產(chǎn)生出的復(fù)雜光信號(hào)進(jìn)行處理(整理、分離、篩選、捕捉)。  

    C、測(cè)控系統(tǒng):測(cè)量代表各元素的特征譜線強(qiáng)度,通過各種手段,將譜線的光強(qiáng)信號(hào)轉(zhuǎn)化為電腦能夠識(shí)別的數(shù)字電信號(hào)??刂普麄€(gè)儀器正常運(yùn)作  

    D、計(jì)算機(jī)中的軟件數(shù)據(jù)處理系統(tǒng):對(duì)電腦接收到的各通道的光強(qiáng)數(shù)據(jù),進(jìn)行各種算法運(yùn)算,得到穩(wěn)定,準(zhǔn)確的樣品含量。

    二、光電直讀光譜儀4個(gè)模塊的種類和特點(diǎn):  

   (一)激發(fā)系統(tǒng):  

    1.高能預(yù)燃低壓火花激發(fā)光源+高純氬氣激發(fā)氣氛:采用高能預(yù)燃,大幅降低了樣品組織結(jié)構(gòu)對(duì)原子化結(jié)果的影響  

    2.高壓火花激發(fā)光源+高純氬氣激發(fā)氣氛:采集光強(qiáng)不穩(wěn)定  

    3.低壓火花激發(fā)光源+高純氬氣激發(fā)氣氛:對(duì)同一樣品光強(qiáng)穩(wěn)定,但是對(duì)于樣品組織結(jié)構(gòu)對(duì)原子化的影響無能為力  

    4.直流電弧激發(fā)光源+高純氬氣激發(fā)氣氛:對(duì)樣品中的痕量元素光譜分辨率和檢出限有好效果。

    5.數(shù)控激發(fā)光源+高純氬氣激發(fā)氣氛:按照樣品中各元素的光譜特性,把激發(fā)過程分為靈活可調(diào)的幾個(gè)時(shí)間段,每段時(shí)間只針對(duì)某幾個(gè)情況相近的元素給出佳的激發(fā)狀態(tài)進(jìn)行激發(fā),并僅采集這幾個(gè)元素。把各元素的激發(fā)狀態(tài)按照試驗(yàn)情況進(jìn)行分類討論) 

   (二)光學(xué)系統(tǒng):  

    1.帕邢-龍格光學(xué)系統(tǒng)(固定光路,凹面光柵及排列在羅蘭軌道上的固定出射狹縫陣列):光學(xué)系統(tǒng)結(jié)構(gòu)穩(wěn)定,笨重,體積大。  

    2.中階梯光柵交叉色散光學(xué)系統(tǒng)(采用雙單色器交叉色散技術(shù),達(dá)到了高級(jí)次同級(jí)的高分辨率,同時(shí)又用二次色散解決了光譜的級(jí)次重疊問題):體積小,分辨率高,一般采集接固體成像系統(tǒng)。  

   (三)測(cè)控系統(tǒng):  

    1.測(cè)量系統(tǒng):  

   (1)光電倍增管+積分電路+模數(shù)轉(zhuǎn)化電路:一般作為帕邢-龍格光學(xué)系統(tǒng)或C-T光學(xué)系統(tǒng)的光譜采集器,一個(gè)光電倍增管加上之后的電路只能采集一根譜線  的強(qiáng)度。  

   (2)CCD/CID檢測(cè)器+DSP:一般作為中階梯光柵交叉色散光學(xué)系統(tǒng)的采集器,靈敏度略低于光電倍增管,但是可做全譜采集。  

    2.控制:  

   (1)多層光電隔離的激發(fā)控制+光路控制+采集控制   

   (2)采用高抗干擾的通訊協(xié)議進(jìn)行可又?jǐn)?shù)據(jù)反饋的高效率控制。  

   (四)計(jì)算機(jī)軟件及數(shù)據(jù)處理系統(tǒng):  

    1.內(nèi)標(biāo)法  

    2.通過標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)繪制曲線。  

    3.通過PDA技術(shù)篩選數(shù)據(jù)。  

    4.通過軟件通道的測(cè)量數(shù)據(jù)進(jìn)行背景、以及第三元素干擾的去干擾運(yùn)算。  

    5.通過控制樣品找回儀器的漂移量。

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