日本ourstex熒光X射線分析儀OURSTEX 160

OURSTEX 160型被?選為東京都政fu于2006年3月執(zhí)行的《環(huán)境安全條例》中用于土壤污染調查（重金屬等）的簡單快速分析技術（簡單分析方法）。

　■用于工廠現場的土壤分析... 　●可以進行無損且快速的成分分析。　●緊湊輕巧，因此可以進行現場分析?！　裉岣吡酸槍χ校亟饘僭氐撵`敏度?！　馯tility僅適用于AC100V-5A?！　裨O備內部是受控區(qū)域。

元素技術的結晶/高靈敏度和高精度

能量色散X射線熒光分析儀用來自X射線管的原始X射線輻照樣品，并使用半導體檢測器測量產生的X射線熒光，因此無論樣品的形狀如何，它都是非破壞性的元素定性的。樣品。?進行定量分析。
半導體檢測器使用不需要液氮冷卻的電子冷卻的硅漂移檢測器（SDD），并且可以與數字計數電路（DSP）結合使用以測量高分辨率和高計數率。
為了提高分析性能，準備了可以使能量分辨率和半導體檢測器的計數靈敏度z大化的激發(fā)光學系統的條件。

應用實例

• 同時分析碘化銫（CsI）化合物中的碘（I）和銫（Cs）
• 焚燒灰分的分析實例
• 水泥分析實例
• 采石場的土石，沙礫和碎石現場分析示例
• 鋁合金中鎂的測量示例（每種類型）
• 農yao污染土壤的分析
• 工業(yè)廢物分析
• 土壤中有害重金屬元素的分析
• 石油中的硫分析
• 新型固體燃料RPF分析

日本ourstex熒光X射線分析儀OURSTEX 160

OURSTEX 160規(guī)格