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產(chǎn)品簡介
泰克TLA7000 邏輯分析儀通過簡單直觀的觸發(fā)設(shè)置，快速隔離事件。觸發(fā)包括：通道邊沿、通道值、總線值、多組值、毛刺、建立和保持違例、或在任何方面觸發(fā)。
詳細(xì)介紹
特色： 泰克TLA7000 邏輯分析儀
模塊化 TLA7000 邏輯分析儀系列為當(dāng)今快的微處理器和內(nèi)存設(shè)計(jì)提供了捕獲邏輯細(xì)節(jié)所需的速度和靈活性。只需一只探頭，即可定位難檢錯(cuò)誤的源頭，獲得方便易讀大顯示器所具備的可視性、快速的數(shù)據(jù)吞吐量以及模擬和數(shù)字信號的時(shí)間相關(guān)視圖。
● 用于實(shí)時(shí)數(shù)字系統(tǒng)分析的突破性解決方案
泰克TLA7000 邏輯分析儀
功能 | 優(yōu)勢 |
| MagniVu™ 采集 | 所有通道上有更高的采樣分辨率（高達(dá) 20 ps），在時(shí)基或狀態(tài)采集模式中可*避免錯(cuò)過事件。 |
| iCapture™ 復(fù)用 | 通過單個(gè)邏輯分析儀探頭，在數(shù)字和模擬同時(shí)采集時(shí)避免雙探。 |
| 標(biāo)示毛刺 | *的功能同時(shí)顯示發(fā)生毛刺時(shí)的時(shí)間和通道，無需手動搜索所有通道。 |
| TS/TH 違例觸發(fā) | 實(shí)時(shí)違例觸發(fā)可自動采集間歇性建立和保持違例，消除監(jiān)視電路輸出時(shí)的耗時(shí)復(fù)雜工作。 |
| iView™ 顯示 | 一臺顯示器上顯示時(shí)間相關(guān)的集成模擬和數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)，獲得完整的系統(tǒng)信息。 |
| iVerify™ 分析 | 使用示波器生成的圖形通過多通道總線分析快速查找信號完整性問題。 |
| 自動測量 | 通過測量方便概述設(shè)計(jì)的性能：頻率、周期、脈寬、占空比和邊沿計(jì)數(shù)。 |
| 拖放式觸發(fā) | 通過簡單直觀的觸發(fā)設(shè)置，快速隔離事件。觸發(fā)包括：通道邊沿、通道值、總線值、多組值、毛刺、建立和保持違例、或在任何方面觸發(fā)。 |