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產(chǎn)品簡介
詳細(xì)介紹
XD laser激光干涉儀 XD laser激光干涉儀
一維測量系統(tǒng)XD –1D標(biāo)準(zhǔn)型&精密型
三維測量系統(tǒng)XD –3D
五維測量系統(tǒng)XD –5D標(biāo)準(zhǔn)型&精密型
六維測量系統(tǒng)XD –6D 標(biāo)準(zhǔn)型&精密型
測量機床全部誤差所用的時間越短，越能夠反映所測機床的真實情況。當(dāng)用傳統(tǒng)干涉儀測量時，因在測量各項指標(biāo)時更換光學(xué)鏡調(diào)整光路上要浪費大量的時間，難以保證機床檢測數(shù)據(jù)的穩(wěn)定性和重復(fù)再現(xiàn)性。XD系列激光干涉儀約在2000年進入中國市場，結(jié)合激光干涉技術(shù)和光電自準(zhǔn)直技術(shù):不僅可用于精度的終評價, 也可用于機床的安裝調(diào)整。XD Laser 激光干涉儀是API公司的產(chǎn)品。-次安裝即可以測得6個參數(shù).包括1個位置度誤差. 2個直線度誤差和3個角度誤差。通常時間需數(shù)天進行的測試，使用API激光干涉儀只需幾個小時即可完成。實際應(yīng)用結(jié)果表明:可節(jié)省時間高達80%。
圖示：XD激光干涉儀
*結(jié)構(gòu)設(shè)計
API公司采用了穩(wěn)定鋼球與絕熱層的雙重定位設(shè)計，將干涉鏡用高絕熱層與激光器主機隔開，從而避免了干涉鏡受熱變形，用穩(wěn)定鋼珠將干涉鏡前端的干涉區(qū)與下端底盤定位相連，從而使激光管及電路板發(fā)熱而引起的熱膨脹方向沿穩(wěn)定鋼珠中線向后，使得干涉鏡不受影響，保證了測量準(zhǔn)確性。
主要特性：
??一次安裝能測量6項精度指標(biāo)包括線性定位誤差、XX及YY兩個方向直線度、偏擺角、俯仰角、滾動角
??把反射鏡換成五棱鏡既可測量兩軸間垂直度
??兩點調(diào)光線.無需三腳架. 測量調(diào)整簡單快速
??傳統(tǒng)激光干涉儀測量20項精度指標(biāo)(三軸)，約需3天的時間；API干涉儀只約需半天!
??測量直線度/小角度/垂直度/轉(zhuǎn)臺時, 不怕斷光, 可當(dāng)自準(zhǔn)直儀用, 用于機床裝配調(diào)試
機床主要誤差：
激光干涉儀 ↓ 幾何誤差(21項：線性定位誤差 | 主軸測量系統(tǒng)： ↓ 溫升熱變性誤差： 主軸溫升 導(dǎo)軌溫升變性 |
美國API軟件功能：
從初的系統(tǒng)校準(zhǔn)到測量結(jié)果的審查.再到機床的空間精度補償，API軟件 都會無微不至地協(xié)助您完成測量工作:易于使用一- 界面設(shè)計明朗，讓操作者一目了然。高效多功能一無論您測量位置度.直線度.角度、平面度甚至是空間誤差補償以及數(shù)控程序，XD Laser和API軟件都將伴您左右，幫助提高您的生產(chǎn)效率。
SPELECNIR是市場上*將近紅外光譜與電化學(xué)測量集成在一起的儀器，所有組件都完美匹配，其中電化學(xué)和光學(xué)測量可以實現(xiàn)準(zhǔn)確同步。儀器中集成了光源、光譜儀和一臺雙恒電位/恒電流儀。
該儀器還可以作為近紅外光譜儀或雙恒電位/ 恒電流儀獨立使用。SPELECNIR可以與標(biāo)準(zhǔn)比色皿支架或光譜電化學(xué)測試池池一起使用，也可以配合DropSens測試池和絲網(wǎng)印刷電極一起使用。
主要特點
• DropView同時控制光譜與電化學(xué)測量
• 光譜信號與電化學(xué)測量同步采集
• 實時采集光譜，無延遲
• 暗譜與參考譜校正
• 計數(shù)、吸收率、透射率和反射率測量和計算
• 自動和手動快門控制
• 自由選擇積分時間
• 強大的數(shù)據(jù)處理和分析
• 可分別提供光譜和電化學(xué)曲線相關(guān)信息
強大的的數(shù)據(jù)采集與結(jié)果處理
• 實時控制面板，可在電化學(xué)測量過程中隨時連續(xù)收
集生成的光譜。
• 特定波長下光譜與電化學(xué)曲線圖：電位吸收圖，計時
吸收圖和微分圖。
• 獨立收集每個光譜和電化學(xué)曲線的信息。
• 的EC范圍內(nèi)捕獲的光譜, 獲取與特定EC點相關(guān)
的光譜。
• 繪制疊加，峰積分，平滑（所有原始數(shù)據(jù)光譜）。
• 三維繪圖, 錄制實驗影片。
• 所有數(shù)據(jù)均可導(dǎo)出Excel。
