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定華雷達儀表學(xué)堂:雷達物位計干擾因素詳解

閱讀:174      發(fā)布時間:2025-4-9
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雷達物位計的干擾因素主要包括:

 

高頻頭沾染粘附物、障礙物對反射的干擾、短管內(nèi)的阻抗躍變、天線連接處的阻抗躍變、罐內(nèi)油氣或蒸汽結(jié)露影響反射等。

 

常見的儀表信號干擾源電磁兼容性已成為工業(yè)過程測量和控制儀表的一項重要性能指標(biāo)。

 

由于測量和控制儀表總是和各類產(chǎn)生電磁干擾的設(shè)備工作在一起,因此不可避免地受電磁環(huán)境的影響。常見的干擾源主要分外部干擾和內(nèi)部干擾兩大類。 

 

3.1外部干擾

1)天體和天電的干擾天體干擾是由太陽或其他恒星輻射電磁波所產(chǎn)生的干擾。天電干擾是由雷電、大氣的電離作用、火山爆發(fā)及地震等自然現(xiàn)象所產(chǎn)生的電磁波和空間電位變化所引起的干擾。

 

2)機械的干擾機械的干擾是指由于機械的振動或沖擊,使控制儀表中的電氣元件發(fā)生振動、變形,使連接線發(fā)生位移,使指針發(fā)生抖動、儀表接頭松動等。對于機械類的干擾主要是采取減振措施來解決,例如采用減振彈簧、減振軟墊、隔板等。

 

3)熱的干擾火電廠熱力設(shè)備在工作時產(chǎn)生的熱量所引起的溫度波動和環(huán)境溫度的變化,都會引起控制儀表的電路元器件參數(shù)發(fā)生變化,從而影響控制儀表的正常工作。

 

4)光的干擾在控制儀表中廣泛使用著各種半導(dǎo)體元件,這些半導(dǎo)體元件在光的作用下會改變其導(dǎo)電性能,從而影響控制儀表的正常工作。

 

5)濕度干擾濕度過高會引起絕緣體的絕緣電阻下降,漏電流增加;電介質(zhì)的介電系數(shù)增加,電容量增加;吸潮后骨架膨脹使線圈阻值增加,電感器變化;應(yīng)變片黏貼后,膠質(zhì)變軟,精度下降等。

 

6)化學(xué)的干擾酸、堿、鹽等化學(xué)物品以及其他腐蝕性氣體,除了具有化學(xué)腐蝕性作用將會損壞儀器設(shè)備和元器件外,又能與金屬導(dǎo)體產(chǎn)生化學(xué)電動勢,從而影響控制儀表的正常工作。

 

3.2內(nèi)部干擾干擾有時也來自儀表內(nèi)部,如電源變壓器、導(dǎo)線、印刷電路、電子元件之間的電感、電容或元器件內(nèi)部的噪聲干擾。


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