聯(lián)系電話
上海滬怡電氣科技有限公司
中級會員·6年
- 聯(lián)系人：
- 袁經(jīng)理
- 電話：
- 021-66059366
- 手機(jī)：
- 15000689041
- 傳真：
- 021-66260198
- 地址：
- 上海市普陀區(qū)常和路100號
- 個性化：
- www.shhuy.com
- 網(wǎng)址：
- www.shhuy.com
掃一掃訪問手機(jī)商鋪
如何測量包含在回路中但不改變電路的接觸電阻？
一種新方法將解決它。這種方法對于測量復(fù)雜機(jī)械裝配中的接觸電阻非常有用。接觸電阻定義為觸點(diǎn)兩端的電壓與流過一對閉合觸點(diǎn)的電流之比。它符合歐姆定律。金屬 1 和金屬 2 之間有一個接口。來自電流源的電流 I 流過這個接口，可以從電流表中讀取。然后可以從電壓表中讀取界面上的電壓降為 U。然后可以計算出接觸電阻值 Rx。
Rx=U/I
由于接觸電阻隨環(huán)境和電流通過而變化，因此測量條件應(yīng)與使用條件接近。精確測量必須使用四端測量技術(shù)和消除熱電動勢技術(shù)。這種間接測量方法可用于測量接觸電阻或回路電阻。它需要三個測試點(diǎn)、三個步驟和三個公式。該方法已被證實(shí)是正確的，也可用于校準(zhǔn)環(huán)路電阻標(biāo)準(zhǔn)。
接觸電阻測試的典型方法
四線（開爾文）直流電壓降是微歐表進(jìn)行接觸電阻測試的典型方法，它通過消除自身的接觸電阻和測試引線的電阻來確保更準(zhǔn)確的測量。
接觸電阻測試使用兩個電流連接進(jìn)行注入，使用兩個電位引線進(jìn)行電壓降測量；電壓電纜必須盡可能靠近要測試的連接，并且始終位于連接的電流引線形成的電路內(nèi)。
根據(jù)電壓降的測量，微處理器控制的微歐表計算接觸電阻，同時消除連接中的熱 EMF 效應(yīng)可能產(chǎn)生的誤差（熱 EMF 是兩種不同金屬連接在一起時產(chǎn)生的小熱電偶電壓）它們將被添加到測量的總電壓降中，如果不通過不同的方法（極性反轉(zhuǎn)和平均，直接測量熱 EMF 幅度等）從測量中減去它們，則會在接觸電阻測試中引入誤差。
如果在使用低電流測試斷路器接觸電阻時獲得低電阻讀數(shù)，則建議在更高電流下重新測試觸點(diǎn)。為什么我們會受益于使用更高的電流？較高的電流將能夠克服端子上的連接問題和氧化，在這些條件下，較低的電流可能會產(chǎn)生錯誤的（較高的）讀數(shù)。
在接觸電阻測試中保持一致的測量條件非常重要，以便能夠與之前和未來的結(jié)果進(jìn)行比較以進(jìn)行趨勢分析。因此，在進(jìn)行定期測量時，必須在相同的位置、使用相同的測試引線（始終使用制造商提供的校準(zhǔn)電纜）和相同的條件下進(jìn)行接觸電阻測試，以便能夠知道何時連接、連接、焊接或設(shè)備將變得不安全。
