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串聯(lián)諧振（也稱為串聯(lián)諧振裝置）系統(tǒng)的 Q因子是表征線性諧振器諧振特性的量。數(shù)值上等于共振頻率的比w到的寬度共振曲線，時(shí)間因子：Q = W /ΔW它也是常規(guī)通過存儲(chǔ)在系統(tǒng)中的能量的比率來表達(dá)，向平均損耗功率 P諧振期間，即，Q = w W /P。但是，在存在損耗的情況下，不能嚴(yán)格確定存儲(chǔ)的能量，而是通過有條件地區(qū)分耗散和電抗性元素來確定存儲(chǔ)的能量。因此，例如在電的情況下。所存儲(chǔ)的能量被認(rèn)為集中在純反應(yīng)性元素中。電感L和電容C，并且與電流流動(dòng)為純粹的耗能元件相關(guān)的電阻R 。然后諧振電路通常以其Q因子Q為特征，該Q因子定義為與對(duì)數(shù)衰減量成反比的值：
從可以看出，電路的品質(zhì)因數(shù)越高，在振幅降低e倍之前需要完成的諧振次數(shù)就越大。在弱衰減的情況下
Q因子是確定共振帶的串聯(lián)諧振系統(tǒng)的特征，它顯示系統(tǒng)中的能量儲(chǔ)備大于一個(gè)諧振周期能量損失的次數(shù)。品質(zhì)因數(shù)與系統(tǒng)中自然諧振的衰減率成反比。即，串聯(lián)諧振系統(tǒng)的品質(zhì)因數(shù)越高，每個(gè)周期的能量損失越小，諧振的阻尼就越慢。
例如，在電諧振電路中，由于電路的有限電阻而耗散了能量，在石英晶體中，諧振的衰減是由晶體中的內(nèi)部摩擦引起的，在體積電磁諧振器中，它在諧振器的壁中，在其材料中和在通信元件中，在光學(xué)諧振器中-在反射鏡上損失了。
對(duì)于RLC電路中的串聯(lián)諧振電路，其中所有三個(gè)元件都串聯(lián)連接：
其中R，L和C是電阻，電感和所述電容的諧振電路。
