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為什么真空臺(tái)式機(jī)X熒光光譜儀對(duì)輕元素(鈉鎂鋁硅磷)的檢測(cè)效果更好

閱讀:1172      發(fā)布時(shí)間:2022-8-18
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X射線熒光(“XRF")是已用于包括礦物的各種樣品的元素分析的技術(shù)。XRF分析器 通過(guò)用X射線照射樣品上的一個(gè)點(diǎn)并測(cè)量由該樣品中不同元素所發(fā)射的特征X射線的光譜 來(lái)確定該樣品的化學(xué)性質(zhì)。X射線的主要來(lái)源可以是X射線管或放射性材料如放射性同位 素。如在此所使用的術(shù)語(yǔ)“X射線"包括在約IkeV與約150keV之間能量的光子,并因此將包 括:由已激勵(lì)原子在其去激勵(lì)時(shí)發(fā)射的特征X射線;當(dāng)電子由原子散射時(shí)發(fā)射的韌致輻射X 射線;分別地一般稱(chēng)為瑞利(Rayleigh)和康普頓(Compton)散射福射的彈性地和非彈性地 散射的光子。

當(dāng)暴露于來(lái)自射線源的高能初級(jí)X射線時(shí),在一種樣品中存在的每種原子元素產(chǎn) 生實(shí)質(zhì)上是該特定元素的指紋的一組特征熒光X射線。X射線熒光分析器通過(guò)用X射線照射樣品上的一個(gè)點(diǎn)并測(cè)量由該樣品中各種元素所發(fā)射的特征X射線的光譜來(lái)確定該樣 品的化學(xué)性質(zhì)。X射線的主要來(lái)源可以是X射線管或放射性材料如放射性同位素。在原子等 級(jí)上,當(dāng)充足能量的光子擊中該樣品中的原子時(shí),將電子逐出原子的一個(gè)內(nèi)軌道層時(shí)產(chǎn)生特征熒光X射線。該原子然后幾乎立即恢復(fù)穩(wěn)定性,用來(lái)自該原子的一個(gè)較高能量(外層)軌 道層中的電子填充在內(nèi)軌道層中留下的空位。過(guò)多能量能夠以熒光X射線的形式被釋放,即以表征原子的兩個(gè)量子態(tài)之間的差異的能量形式。通過(guò)誘導(dǎo)和測(cè)量由該樣品中不同元素所 發(fā)射的寬范圍的不同的特征熒光X射線,XRF分析器能夠確定在該樣品中存在的元素,并基 于在具體能量發(fā)生的熒光X射線的數(shù)目計(jì)算其相對(duì)濃度。然而,除了在特殊情況下,用便攜式XRF分析器典型地都無(wú)法直接測(cè)量低濃度的輕元素(lightelements)(原子序數(shù)較低的 那些元素,Z典型低于20),因?yàn)槟芰康陀诩s2.5千電子伏特(keV)的熒光X射線在短的空氣路徑長(zhǎng)度內(nèi)被吸收。因此,輕元素XRF分析要求氦氣吹掃或真空檢測(cè)環(huán)境,這對(duì)便攜式或手持式儀器可能是不方便的。而臺(tái)式XRF光譜儀EDX9000A配備的真空系統(tǒng),配合特別設(shè)計(jì)的光路,能很好實(shí)現(xiàn)對(duì)輕元素的檢測(cè)。這對(duì)于礦產(chǎn),比如鋁土礦或者一些高硅高鋁樣品的檢測(cè),顯得尤為重要。


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