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蘇州英飛思科學儀器有限公...

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XRF多元素分析儀在礦石分析檢測中的應用

閱讀:1189      發(fā)布時間:2022-10-26
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多元素分析儀XRF光譜EDX9000B-plus無損快速分析檢測各類礦石礦產樣品

 

元素分析儀,是指同時或單獨實現樣品中多種種元素的分析的儀器。各類元素分析儀雖結構和性能不同,而性能各異。新款元素分析儀EDX9000B基于XRF光譜無損檢測技術,已越來越受到市場歡迎。

英飛思科學儀器的元素分析儀EDX9000B,從2016年開始商業(yè)化發(fā)布。2017年底推出的最新型號9000Bplus ,集十多年的專業(yè)技術經驗、創(chuàng)新、科技進步于一體的全新一代元素分析儀。

目前擁有眾多客戶和良好口碑,是目前市場上可靠和準確的元素分析儀之一。

 

應用領域:

EDX9000B plus元素分析儀應用范圍廣泛,適合有石化、農業(yè)、食品、海洋、能源,無機化學、制藥、材料、環(huán)境、及石油化工等領域的分析。

 

元素分析——滿足實驗需求

EDX9000B plus優(yōu)秀的分析性能,使其可以輕松完成對以下礦種的測試:

鐵礦(磁鐵礦、赤鐵礦、鈦鐵礦、菱鐵礦等)

銅礦(黃銅礦、赤銅礦、孔雀石等)

鉻礦(鉻鐵尖晶石、鉻鐵礦、鉻鉍礦等)

鉬礦(輝鉬礦、銅鉬礦、鎢鉬礦等)

鎢礦(白鎢礦、黑鎢礦、錫鎢礦等)

鉭礦(鉭鐵礦、鈮鐵礦、燒綠石等)

鉛鋅礦(方鉛礦、閃鋅礦、白鉛礦等)

鎳礦(紅土鎳礦、硫化銅鎳礦等)

鋁土礦

其它礦類

產品特點

1.小型化、高性能、高速度、易操作,Na11-U92高靈敏度、高精度分析

2.可同時分析40種元素

3.采用多準直器多濾光片和扣背景技術

4. Peltier電制冷 FAST SDD硅漂移檢測器提供出色的短期重復性和長期再現性以及出色的元素峰分辨率

5.超高記數數字多道電路設計,雙真空抽速機構,真空度自動穩(wěn)定系統

6.標配基本參數法軟件,多任務,多窗口操作

7.薄膜濾光片技術,有效提高輕元素檢出限

元素分析儀EDX9000B plus參數指標

儀器外觀尺寸: 565mm*385mm*415mm

超大樣品腔:465mm*330mm*110mm

半封閉樣品腔(抽真空時):Φ150mm×高75mm

儀器重量: 48Kg

元素分析范圍:Na11-U92鈉到鈾

可分析含量范圍:1ppm- 99.99%

探測器:AmpTek 超高分辨率電制冷Fast SDD硅漂移檢測器

探測器分辨率:122 eV FWHM at 5.9 keV

處理器類型:全數字化DP-5分析器

譜總通道數:4096道

X光管:高功率50瓦光管(進口管芯),冷卻方式:硅脂冷卻

光管窗口材料:鈹窗

準直器:多達8種選擇,最小0.2mm

濾光片:7種濾光片的自由選擇和切換

高壓發(fā)生裝置:原裝美國高壓,電壓輸出:0-50kV;輸出電流:0-1mA

高壓參數:最小5kv可控調節(jié),自帶電壓過載保護,輸出精度:0.01%

樣品觀察系統:500萬像素高清CCD攝像頭

電壓:220ACV 50/60HZ

環(huán)境溫度:-10 °C 到35 °C

 

 

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