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雙85恒溫恒濕試驗(yàn)箱技術(shù)參數(shù)及詳細(xì)配置:
沖擊方式:兩箱式或三箱式(用戶自選)
工作室溫度沖擊范圍:A型-20℃~+150℃ B型-30℃~+150℃C型-40℃~+150℃ D型-50℃~+150℃ E型-60℃~+150℃F型-70℃~+150℃
高溫室溫度范圍:60℃~150℃、 升溫時(shí)間≤45分鐘
低溫室溫度范圍:根據(jù)用戶選擇的型號(hào),降溫時(shí)間≤45分鐘
溫度波動(dòng)度:≤±0.5℃
高溫室溫度偏差:≤±2℃
低溫室溫度偏差:≤±2℃
溫度恢復(fù)時(shí)間鐘: ≤5分
工作室轉(zhuǎn)換時(shí)間:≤10秒
沖擊轉(zhuǎn)換方式:兩箱式為試件選擇環(huán)境轉(zhuǎn)換,三箱式為環(huán)境選擇試件轉(zhuǎn)換
高溫室尺寸:700×700×350(深×寬×高)單位mm
低溫室尺寸:700×700×350(深×寬×高)單位mm
環(huán)境模擬巨無霸雙85恒溫恒濕試驗(yàn)箱滿足標(biāo)準(zhǔn):
1.GB10589-89低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
2.GB11158-89高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
3.GB10592-89高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
4.GB2423.1低溫試驗(yàn)、試驗(yàn)A
5.GB2423.2高溫試驗(yàn)、試驗(yàn)B
6.GB2423.22溫度變化試驗(yàn)、試驗(yàn)N
7.IEC68-2-14試驗(yàn)N
8.Guo軍標(biāo)GJB150.3-86
9.Guo軍標(biāo)GJB150.4-86
10.GB2423.1-89電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法
11.GB2423.2-89電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法
雙85恒溫恒濕試驗(yàn)箱設(shè)備說明:
該產(chǎn)品適用于電子元器件的安全性能測(cè)試提供可靠性試驗(yàn)、產(chǎn)品篩選試驗(yàn)等,同時(shí)通過此裝備試驗(yàn),可提高產(chǎn)品的可靠性和進(jìn)行產(chǎn)品的質(zhì)量控制
設(shè)備型號(hào):KD-50 500×400×350(長(zhǎng)×寬×高)
溫度沖擊型:A型-20℃~+150℃ B型-30℃~+150℃C型-40℃~+150℃
D型-50℃~+150℃ E型-60℃~+150℃F型-70℃~+150℃
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請(qǐng)輸驗(yàn)證碼
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