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復(fù)合材料擊穿強(qiáng)度性能實(shí)驗(yàn)的研究

閱讀:1115        發(fā)布時(shí)間:2022-4-12

復(fù)合材料的擊穿強(qiáng)度隨填料的增加而減小。這是由于無機(jī)填料和聚合物基體間電性能的差異,在界面附近會發(fā)生電場畸變,使得電場應(yīng)力在局部集中,從而引發(fā)擊穿。電介質(zhì)的最大儲能密度通過以下公式運(yùn)算:

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其中C為復(fù)合材料的介電常數(shù),E是復(fù)合材料的擊穿強(qiáng)度,所以復(fù)合材料的擊穿越大,材料的儲能效果越好。

圖2.20所示,為復(fù)合材料擊穿特性圖,從圖中可以看到隨著填料的增加,復(fù)合材料的擊穿性能不斷下降,表現(xiàn)好的為體積分?jǐn)?shù)為2.5%CCTO納米顆粒,當(dāng)體積分?jǐn)?shù)為7.5%時(shí),CCTO納米線的擊穿強(qiáng)度要高出CCTO納米顆粒很多,CCTO納米顆粒在這個(gè)時(shí)候發(fā)生了突降,而CCTO納米線的擊穿特性更加穩(wěn)定,這很大程度和材料的結(jié)構(gòu)有關(guān),球狀CCTO更容易發(fā)生團(tuán)聚,當(dāng)填料增高時(shí),團(tuán)聚現(xiàn)象突增,表面缺陷增多,電荷聚集明顯,容易發(fā)生擊穿,也容易出現(xiàn)介電性能的突變。

    對復(fù)合材料進(jìn)行D-E曲線測試,得到其介電儲能密度,D-E曲線如圖2.21所示。通過對比可以發(fā)現(xiàn),氧化鋁包覆的復(fù)合材料在擊穿電壓上有所提高,未包覆氧化鋁的復(fù)合材料擊穿僅僅可以達(dá)到240MV/m,這主要與欽酸銅鈣材料本身特性

有關(guān),高介電損耗和與基體巨大的介電差異導(dǎo)致?lián)舸┖艿?,將表面包覆氧化鋁后,可以提高材料的擊穿強(qiáng)度。

    將圖2.21進(jìn)行積分處理,得到復(fù)合材料的放電儲能密度和儲能效率,如圖2.22所示,儲能密度隨著填料的增加而增加,且欽酸銅鈣納米線復(fù)合材料的儲能密度略高于添加納米顆粒的復(fù)合材料的儲能密度,當(dāng)體積分?jǐn)?shù)為5%時(shí),添加欽酸銅鈣

納米線的復(fù)合材料儲能密度可以達(dá)到1.67J/c耐,此時(shí)添加欽酸銅鈣納米顆粒復(fù)合材料的儲能密度為1.28 J/c耐,提升了30%。可以得出欽酸銅鈣納米線有著更好的儲能密度。從儲能效率我們也可以看到,雖然隨著填料的增加,儲能效率均有所下降,但是欽酸銅鈣納米線復(fù)合材料有著更高的儲能效率。因此在儲能密度和儲能效率上,欽酸銅鈣納米線也表現(xiàn)出比欽酸銅鈣納米顆粒更加優(yōu)異的性能。


關(guān)鍵詞:擊穿強(qiáng)度實(shí)驗(yàn)、介電常數(shù)試驗(yàn)、擊穿性能、復(fù)合材料擊穿電壓測試

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