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德國FISCHER菲希爾測厚儀
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菲希爾代理FischerX射線測厚儀信息

時間:2024/7/5閱讀:439
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Fischer 基本參數(shù)法,無論是鍍層系統(tǒng)還是固體和液體樣品,都能在沒有標準片的情況下進行分析和測量。多可同時測量從氯(17)到鈾(92)中的24 種元素。

菲希爾代理XDL型X射線光譜儀有著良好的長期穩(wěn)定性,這樣就不需要經(jīng)常校準儀器。

菲希爾代理XDL系列儀器特別適用于客戶經(jīng)行質(zhì)量控制、進料檢驗和生產(chǎn)流程監(jiān)控。
菲希爾代理X射線測厚儀 FISCHERSCOPE®-X-RAY XDL-210典型的應(yīng)用領(lǐng)域有:

? 測量大規(guī)模生產(chǎn)的電鍍部件

? 測量薄鍍層,例如裝飾鉻

? 測量電子工業(yè)或半導(dǎo)體工業(yè)中的功能性鍍層

? 全自動測量,如測量印刷線路板

? 分析電鍍?nèi)芤?/p>


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