FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 系列作為一款應用廣泛的能量色散型 X 射線儀器，專為超薄鍍層測量與微含量分析設計，是質量控制、質量檢驗及生產監(jiān)控場景下的理想測量工具。該系列儀器采用界面友好的臺式設計，依據不同使用需求推出了多種版本。
型號特點
XDLM 231 型：配備固定式工作臺，搭配馬達驅動的 Z 軸升降系統(tǒng)，操作穩(wěn)定便捷。
XDLM 232 型：搭載可手動操控的 X/Y 工作臺，同樣具備馬達驅動的 Z 軸升降系統(tǒng)，適用于多樣化樣品測量需求。
XDLM 237 型：擁有馬達驅動的 X/Y 工作臺，當保護門開啟時，工作臺會自動移動至樣品放置位置，極大提升操作效率；此外，還配備馬達驅動的可編程 Z 軸升降系統(tǒng)，為精準測量提供更多可能。
儀器參數
測量組件：配備 4 個可切換準直器與 3 種可切換基本濾片，采用比例接收器，測量距離可達 0 - 80mm。
圖像系統(tǒng)：采用高分辨率的 CCD 彩色攝像頭，確保測量過程清晰可視。
重量規(guī)格：儀器重量在 100kg - 120kg 區(qū)間。
使用要求
環(huán)境條件：工作溫度范圍為 10℃ - 40℃，空氣相對濕度需控制在≤95% 且無結露現象。
計算機適配：需搭配帶擴展卡的計算機系統(tǒng)，以保障儀器與計算機的高效協(xié)同工作。
