FISCHERSCOPE®X-RAYXUL和XULM系列熒光鍍層測厚儀引見：

       多用處的鍍層厚度丈量儀。無論是薄的還是厚的鍍層（如50 nm Au或100 μmSn）都經(jīng)過選擇好的高壓濾片組合很好地丈量。微聚焦管能夠到達在很短的丈量間隔內(nèi)小到100 μm的丈量點大小。高達數(shù)kcps的計數(shù)率能夠被比例接納器接納到。關(guān)于FISCHERSCOPE®X-RAYXUL和XULM系列來說，X射線源和接納器位于丈量室的下方，這樣能夠快速便當(dāng)?shù)囟ㄎ粯悠贰３艘酝?，視頻窗口也能夠輔助定位，儀器前方的大控制臺簡化了操作，特別是在日常消費中丈量大量部件時特別有用。雖然構(gòu)造緊湊，但這些儀器都有大容量的丈量室，這樣大的物品也能夠丈量。殼體的開槽設(shè)計（C型槽）能夠丈量諸如印刷線路板類大而平整的樣品，即便這些樣品可能無法*放入丈量室，樣品直接放置在平整的支撐臺上，或者定位精度更高的手動XY工作臺上。

XULM 240介紹：

       XULM適合測量小的結(jié)構(gòu)。它配備了微聚焦管，測量點小可達約100μｍ，同時比例接收器仍然可以保持相對高的計數(shù)率。即使很短的測量時間也可以達到很好的重復(fù)精度。此外，XULM配備了可自動切換的準(zhǔn)直器和多種濾片可以靈活地為不同的測量應(yīng)用創(chuàng)造佳的激勵條件。