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泰勒霍普森接觸式粗糙度儀DUO測量原理

時間:2025/4/16閱讀:193
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泰勒霍普森接觸式粗糙度儀DUO測量原理

按一鍵即可測量多個粗糙度參數(shù)。這些參數(shù)(如Ra、Rz、Rp、Rv和Rt)會顯示在直觀的2.4英寸LCD彩色屏幕上。使用充電電池,便于在所有環(huán)境和表面進行快速、輕松和精確的現(xiàn)場測量。

測量原理:通過采用耐磨的金剛石測針部件,以及精密的機動驅(qū)動裝置,確保行進正確的水平距離。當(dāng)測針劃過波峰和波谷時,高感應(yīng)度的壓電傳感器能檢測到它的垂直移動,然后將機械移動轉(zhuǎn)化為電子信號。電子信號將進行數(shù)字化處理并發(fā)送到微處理器, 然后使用標(biāo)準(zhǔn)化算法即時計算表面粗糙度參數(shù)。Surtronic DUO粗糙度儀

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