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SURTRONIC DUO粗糙度測(cè)量?jī)x泰勒,測(cè)量原理通過(guò)采用耐磨的金剛石測(cè)針部件,以及精密的機(jī)動(dòng)驅(qū)動(dòng)裝置,確保進(jìn)行正確的水平距離。當(dāng)測(cè)針劃過(guò)波峰和波谷時(shí),高感應(yīng)...
SURTRONIC S116粗糙度測(cè)量?jī)x,輕輕的按下測(cè)量按鈕,在幾分鐘內(nèi)就能得到一個(gè)完整的可追溯的測(cè)量結(jié)果,包括可在屏幕上顯示的詳細(xì)輪廓曲線(xiàn)圖或者自動(dòng)打印出測(cè)量...
賽多利斯MA37,MA37是新一代的水分測(cè)定儀,但延續(xù)了MA35的成功。 MA37提供快速、精確的結(jié)果,而且易于操作??焖贉y(cè)量測(cè)量狀態(tài)全程顯示友好的用戶(hù)操作界面...
賽多利斯 LMA100P,LMA100P,賽多利斯水分測(cè)定儀無(wú)錫駿展儀器模塊化的水份測(cè)定設(shè)備用于樣品量極大的生產(chǎn)檢驗(yàn)。一個(gè)控制單元可以帶有四個(gè)加熱模塊,這樣幾個(gè)...
DUALSCOPE MP0鍍層測(cè)厚儀,DUALSCOPE MPO菲希爾涂層測(cè)厚儀無(wú)錫駿展儀器為德國(guó)菲希爾1生產(chǎn)涂層測(cè)厚儀,MPO涂層測(cè)厚儀集合了磁性測(cè)厚儀(P-...
MINITEST720 EPK測(cè)厚儀,MiniTest 700系列采用三種不同的型號(hào),每種都可以作為的黑色金屬或有色金屬模型和雙用途型號(hào)。
賽多利斯 水分測(cè)定儀LMA200PM,l 平均測(cè)定時(shí)間只需40到120秒l 采用微波干燥法,快速、有效l 能測(cè)量0.1%到100%的水份含量l 內(nèi)置0.1mg的...
賽多利斯MA100代理,MA100水份測(cè)定儀是目前紅外水分儀中可提供最高測(cè)量精度的。賽多利斯水分測(cè)定儀MA100有分析天平的精度,可以在瞬間得出精確的結(jié)果和重復(fù)...
水分測(cè)定儀賽多利斯MA160-1CN,MA160采用熱重量方法來(lái)測(cè)定液體、膏體以及固體物質(zhì)的水分含量高速測(cè)量快速精準(zhǔn)的方法開(kāi)發(fā)測(cè)量狀態(tài)全程顯示可靠的性能測(cè)試友好...
賽多利斯MA35M-1CN,MA35M-1CN是一款堅(jiān)固,用于日常檢測(cè)的全自動(dòng)紅外水分分析儀 ??商娲稍锖嫦浞ㄒ怨?jié)省時(shí)間,僅10-20分鐘內(nèi)就能得出測(cè)量結(jié)果。...
Sartorius賽多利斯MA35M水分測(cè)定儀,水分測(cè)定儀 MA35 紅外干燥是賽多利斯的一款基礎(chǔ)水分測(cè)定儀。它是為日常過(guò)程控制中操作而設(shè)計(jì)的。水份分析非常簡(jiǎn)單...
賽多利斯MA37水分測(cè)定儀,可廣泛應(yīng)用于需要快速測(cè)定水分的行業(yè),如醫(yī)藥、塑膠、化工、食品(魚(yú)糜、脫水蔬菜、肉類(lèi)和水產(chǎn)加工干、月餅等)、糧食、飼料、種子、菜籽、茶...
FISCHERSCOPE X-RAY XDAL PCB,XDLM-PCB 200型:首先PCB板將在儀器集成的激光點(diǎn)的協(xié)助下準(zhǔn)確放置于樣品臺(tái)上。然后將樣品臺(tái)如抽...
FISCHERSCOPE X-RAY XDAL 237,F(xiàn)ISCHERSCOPE X-RAY XDAL 237典型的應(yīng)用領(lǐng)域有:?分析小于的超薄鍍層?測(cè)量電子工...
FISCHERSCOPE X-RAY XDLMPCB200/210,菲希爾無(wú)損測(cè)厚儀可用于檢測(cè)金鎳厚度,元素分析,涂層鍍層檢測(cè),材料分析等。菲希爾X-RAY系列...
FISCHERSCOPE X-RAY XDLM PCB 220,F(xiàn)ISCHERSCOPE X-RAY XDLM-PCB 220 是專(zhuān)為測(cè)量印制電路板上鍍層厚度及...
FISCHERSCOPE X-RAY XDLM231/232/237,無(wú)論是高精度鍍層厚度測(cè)量或是精確材料成分分析,F(xiàn)ISCHER眾多系列的X射線(xiàn)熒光光譜儀可以...
FISCHERSCOPE X-RAY XDL240,?FISCHER 的臺(tái)式涂鍍層測(cè)厚儀使用 X 射線(xiàn)熒光法或多探頭的接觸式測(cè)量技術(shù),能提供的性能和靈活性。由于...
鍍層測(cè)厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDL230,鍍層厚度測(cè)量大型電路板與柔性電路板上的鍍層測(cè)量電路板上較薄的導(dǎo)電層和/或隔離層復(fù)雜幾何形狀產(chǎn)品上的...
Fischerscope X-ray XDL 220,XDLM測(cè)量系統(tǒng)經(jīng)常用來(lái)測(cè)量接插件和觸點(diǎn)的各種底材上的Au/Ni,Au/PdNi/Ni,Ag/Ni或Sn/...
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