產(chǎn)地類別 |
國產(chǎn) |
應(yīng)用領(lǐng)域 |
能源,電子/電池,鋼鐵/金屬,電氣,綜合 |
溫度范圍 |
+100℃~+132℃ |
濕度范圍 |
70%~100% |
濕度控制穩(wěn)定度? |
±3%RH |
使用壓力? |
1.2~2.89kg(含1atm) |
壓力波動(dòng)均勻度? |
±0.1Kg |
電子電路元件 hast 蒸汽老化試驗(yàn)箱(Highly Accelerated Stress Test)是一種用于加速電子元件、集成電路、電子設(shè)備等在濕熱環(huán)境下老化過程的設(shè)備。該試驗(yàn)箱通過模擬高溫、高濕的環(huán)境,快速測試電子元件在高應(yīng)力條件下的耐久性和可靠性,通常用于質(zhì)量控制和產(chǎn)品驗(yàn)證階段。











電子電路元件 hast 蒸汽老化試驗(yàn)箱(Highly Accelerated Stress Test,簡稱HAST)是一種用于電子電路元件、集成電路(IC)、電子組件和其他電子設(shè)備的加速老化測試設(shè)備。它通過模擬高溫、高濕的環(huán)境,快速評(píng)估電子元件在條件下的性能和可靠性。HAST試驗(yàn)箱常用于質(zhì)量控制、產(chǎn)品驗(yàn)證和老化測試等環(huán)節(jié)。
HAST蒸汽老化試驗(yàn)箱的主要特點(diǎn)和功能:
高溫高濕環(huán)境模擬:
溫度:通??烧{(diào)范圍為85°C到180°C,部分高中端設(shè)備可達(dá)到更高溫度。
濕度:濕度控制范圍一般為85%RH到100%RH。
通過對(duì)高溫、高濕環(huán)境的模擬,加速電子元件的老化過程。
加速老化測試:
快速檢測潛在問題:
自動(dòng)化與監(jiān)控系統(tǒng):
HAST蒸汽老化試驗(yàn)箱的應(yīng)用領(lǐng)域:
電子元件測試:
產(chǎn)品可靠性評(píng)估:
質(zhì)量控制與認(rèn)證:
研究與開發(fā):
電子電路元件 hast 蒸汽老化試驗(yàn)箱的技術(shù)參數(shù):
溫度范圍:通常從85°C到180°C(部分設(shè)備可擴(kuò)展)。
濕度范圍:85% RH至100% RH。
測試壓力:一般會(huì)設(shè)定一定的壓力(如2至3氣壓),以促進(jìn)加速老化。
樣品負(fù)載:可根據(jù)試驗(yàn)箱的容量,適應(yīng)不同數(shù)量和尺寸的樣品測試。
控制系統(tǒng):配備精確的溫濕度控制系統(tǒng),自動(dòng)化控制溫濕度和試驗(yàn)過程。
HAST蒸汽老化試驗(yàn)箱的測試原理:
HAST試驗(yàn)箱通過將電子元件置于高溫高濕的環(huán)境中,并通過高氣壓或蒸汽環(huán)境加速老化過程。這個(gè)過程中,電子元件暴露在高溫蒸汽和濕氣的影響下,模擬其在長時(shí)間使用過程中的老化現(xiàn)象。HAST測試可以加速元件內(nèi)部的物理和化學(xué)變化,如:
金屬腐蝕
電氣絕緣劣化
焊點(diǎn)疲勞
封裝材料性能下降
這些變化會(huì)導(dǎo)致電子元件的失效,從而揭示潛在的設(shè)計(jì)或工藝問題。
總結(jié):
HAST蒸汽老化試驗(yàn)箱是測試電子電路元件在濕熱環(huán)境下可靠性的關(guān)鍵設(shè)備。它幫助廠商了解和改進(jìn)產(chǎn)品在高溫、高濕環(huán)境下的耐久性,確保產(chǎn)品的長期穩(wěn)定性和質(zhì)量。廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、集成電路、消費(fèi)電子、汽車電子等領(lǐng)域,尤其在產(chǎn)品研發(fā)和質(zhì)量控制過程中,具有重要的作用。