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東莞市德祥儀器有限公司
中級(jí)會(huì)員 | 第4年

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當(dāng)前位置:東莞市德祥儀器有限公司>>溫濕度環(huán)境試驗(yàn)箱>>PCT/HAST蒸汽老化試驗(yàn)箱>> DX-HAST350F電子電路元件 hast 蒸汽老化試驗(yàn)箱

電子電路元件 hast 蒸汽老化試驗(yàn)箱

參  考  價(jià):42600 - 99999 /臺(tái)
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 型號(hào)

    DX-HAST350F

  • 品牌

    德祥儀器

  • 廠商性質(zhì)

    生產(chǎn)商

  • 所在地

    東莞市

更新時(shí)間:2024-12-14 08:29:08瀏覽次數(shù):450次

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產(chǎn)地類別 國產(chǎn) 應(yīng)用領(lǐng)域 能源,電子/電池,鋼鐵/金屬,電氣,綜合
溫度范圍 +100℃~+132℃ 濕度范圍 70%~100%
濕度控制穩(wěn)定度? ±3%RH 使用壓力? 1.2~2.89kg(含1atm)
壓力波動(dòng)均勻度? ±0.1Kg
電子電路元件 hast 蒸汽老化試驗(yàn)箱(Highly Accelerated Stress Test)是一種用于加速電子元件、集成電路、電子設(shè)備等在濕熱環(huán)境下老化過程的設(shè)備。該試驗(yàn)箱通過模擬高溫、高濕的環(huán)境,快速測試電子元件在高應(yīng)力條件下的耐久性和可靠性,通常用于質(zhì)量控制和產(chǎn)品驗(yàn)證階段。

電子電路元件 hast 蒸汽老化試驗(yàn)箱

電子電路元件 hast 蒸汽老化試驗(yàn)箱


電子電路元件 hast 蒸汽老化試驗(yàn)箱

電子電路元件 hast 蒸汽老化試驗(yàn)箱(Highly Accelerated Stress Test,簡稱HAST)是一種用于電子電路元件、集成電路(IC)、電子組件和其他電子設(shè)備的加速老化測試設(shè)備。它通過模擬高溫、高濕的環(huán)境,快速評(píng)估電子元件在條件下的性能和可靠性。HAST試驗(yàn)箱常用于質(zhì)量控制、產(chǎn)品驗(yàn)證和老化測試等環(huán)節(jié)。

HAST蒸汽老化試驗(yàn)箱的主要特點(diǎn)和功能:

  1. 高溫高濕環(huán)境模擬

    • 溫度:通??烧{(diào)范圍為85°C到180°C,部分高中端設(shè)備可達(dá)到更高溫度。

    • 濕度:濕度控制范圍一般為85%RH到100%RH。

    • 通過對(duì)高溫、高濕環(huán)境的模擬,加速電子元件的老化過程。

  2. 加速老化測試

    • HAST試驗(yàn)箱通過模擬電子元件長期暴露在高溫、高濕的環(huán)境下的情況,從而加速故障的發(fā)生,幫助快速評(píng)估電子元件的耐久性。

    • 該測試能夠在短時(shí)間內(nèi)模擬出數(shù)年使用中的老化過程,通常應(yīng)用于新品開發(fā)階段的可靠性測試和質(zhì)量控制。

  3. 快速檢測潛在問題

    • HAST試驗(yàn)箱能夠加速檢測出元件的潛在問題,如材料疲勞、內(nèi)部短路、電氣性能下降等。

    • 它能快速識(shí)別影響產(chǎn)品可靠性的設(shè)計(jì)缺陷、工藝問題或材料問題。

  4. 自動(dòng)化與監(jiān)控系統(tǒng)

    • 現(xiàn)代HAST試驗(yàn)箱配備自動(dòng)化監(jiān)控系統(tǒng),可以實(shí)時(shí)監(jiān)控溫濕度變化、壓力、設(shè)備狀態(tài)等。

    • 試驗(yàn)數(shù)據(jù)可以實(shí)時(shí)記錄和分析,確保測試結(jié)果的準(zhǔn)確性和可追溯性。

HAST蒸汽老化試驗(yàn)箱的應(yīng)用領(lǐng)域:

  1. 電子元件測試

    • 主要用于測試集成電路(IC)、晶體管、二極管、電容、電阻等電子元件。

    • 特別適用于高密度封裝和高功率電子元件的老化測試。

  2. 產(chǎn)品可靠性評(píng)估

    • 用于電子產(chǎn)品的全面可靠性評(píng)估,確保產(chǎn)品在環(huán)境下的正常工作,如汽車電子、通信設(shè)備、消費(fèi)電子等領(lǐng)域的產(chǎn)品。

  3. 質(zhì)量控制與認(rèn)證

    • HAST試驗(yàn)箱幫助廠商在生產(chǎn)過程中進(jìn)行質(zhì)量控制,識(shí)別和解決產(chǎn)品的潛在質(zhì)量問題。

    • 許多電子行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)和認(rèn)證(如JEDEC、IPC)要求進(jìn)行類似的高溫高濕加速老化測試。

  4. 研究與開發(fā)

    • 在產(chǎn)品設(shè)計(jì)和研發(fā)階段,HAST測試可用于驗(yàn)證新材料、新設(shè)計(jì)和新工藝的可靠性,確保產(chǎn)品在使用中的穩(wěn)定性和耐用性。

電子電路元件 hast 蒸汽老化試驗(yàn)箱的技術(shù)參數(shù):

  • 溫度范圍:通常從85°C到180°C(部分設(shè)備可擴(kuò)展)。

  • 濕度范圍:85% RH至100% RH。

  • 測試壓力:一般會(huì)設(shè)定一定的壓力(如2至3氣壓),以促進(jìn)加速老化。

  • 樣品負(fù)載:可根據(jù)試驗(yàn)箱的容量,適應(yīng)不同數(shù)量和尺寸的樣品測試。

  • 控制系統(tǒng):配備精確的溫濕度控制系統(tǒng),自動(dòng)化控制溫濕度和試驗(yàn)過程。

HAST蒸汽老化試驗(yàn)箱的測試原理:

HAST試驗(yàn)箱通過將電子元件置于高溫高濕的環(huán)境中,并通過高氣壓或蒸汽環(huán)境加速老化過程。這個(gè)過程中,電子元件暴露在高溫蒸汽和濕氣的影響下,模擬其在長時(shí)間使用過程中的老化現(xiàn)象。HAST測試可以加速元件內(nèi)部的物理和化學(xué)變化,如:

  • 金屬腐蝕

  • 電氣絕緣劣化

  • 焊點(diǎn)疲勞

  • 封裝材料性能下降

這些變化會(huì)導(dǎo)致電子元件的失效,從而揭示潛在的設(shè)計(jì)或工藝問題。

總結(jié):

HAST蒸汽老化試驗(yàn)箱是測試電子電路元件在濕熱環(huán)境下可靠性的關(guān)鍵設(shè)備。它幫助廠商了解和改進(jìn)產(chǎn)品在高溫、高濕環(huán)境下的耐久性,確保產(chǎn)品的長期穩(wěn)定性和質(zhì)量。廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、集成電路、消費(fèi)電子、汽車電子等領(lǐng)域,尤其在產(chǎn)品研發(fā)和質(zhì)量控制過程中,具有重要的作用。


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