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這是一種波長(zhǎng)色散 X 射線熒光光譜儀 (WD-XRF),可以以非破壞性、非接觸的方式同時(shí)分析最大 ~200 mm 晶圓上各種薄膜的厚度和成分。 XYθZ 驅(qū)動(dòng)式樣品臺(tái)可準(zhǔn)確分析各種金屬膜,避免了衍射線的影響。 使用 4kW 高功率 X 射線管可對(duì)超輕元素進(jìn)行高精度分析,例如 BPSG 薄膜的痕量元素測(cè)量和硼分析。 它還與 C-to-C 傳輸機(jī)器人(可選)兼容。 它配備了 Auto Cal(全自動(dòng)日常檢查和強(qiáng)度校正功能)。
產(chǎn)品名稱 | WDA-3650 型 | |
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技術(shù) | 同步波長(zhǎng)色散 X 射線熒光 (WD-XRF) | |
用 | 用于最大 200 mm 晶圓的多層堆棧的厚度和組成 | |
科技 | 4 kW X 射線發(fā)生器,帶 XYθ 樣品臺(tái),Rh 陽極 WDXRF | |
主要組件 | 多達(dá) 20 個(gè)通道,固定(?Be 到 ??U),掃描(??Ti 到 ??U) | |
選擇 | 高靈敏度 AD-Boron 通道,使用 C-to-C 自動(dòng)進(jìn)樣器進(jìn)行自動(dòng)校準(zhǔn) | |
控制 (PC) | 內(nèi)部 PC、MS Windows®作系統(tǒng) | |
本體尺寸 | 1120 (寬) x 1450 (高) x 890 (深) 毫米 | |
質(zhì)量 | 600 kg(身體) | |
權(quán)力 | 三相 200 VAC 50/60 Hz,30 A 或單相 220-230 VAC 50/60 Hz 40 A |
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