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當(dāng)前位置：深圳秋山工業(yè)設(shè)備有限公司>>外觀分析設(shè)備>>測量裝置>> MEMSMap 510日本syscom振動/位移分析裝置激光測量儀

日本syscom振動/位移分析裝置激光測量儀

參   考   價: ￥ 23000

訂  貨  量: ≥100 臺

具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)

產(chǎn)品型號MEMSMap 510

品       牌其他品牌

廠商性質(zhì)經(jīng)銷商

所  在  地深圳市

更新時間：2025-05-03 14:17:00瀏覽次數(shù)：309次

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日本syscom振動/位移分析裝置激光測量儀 MEMSMap 510

兼容高達(dá) 240MHz 的高頻
可實(shí)時確認(rèn)，包括相位信息 可
從 1 nm 開始測量

日本syscom振動/位移分析裝置激光測量儀 MEMSMap 510 特點(diǎn)介紹


Memsmap 510使用CCD相機(jī)和顯微鏡鏡頭對微小物體（0.1毫米或以上）進(jìn)行振動位移分析。

將激光照射到待測物體上，物體反射的激光與內(nèi)部參考激光之間會產(chǎn)生干涉條紋。使用高精度顯微鏡鏡頭和 CCD 相機(jī)通過圖像處理板將這些干涉條紋作為數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)捕獲到 PC 中。MEMSMAP可以使用兩種不同的方法來測量被測物體的振動和變形：實(shí)時模式和相位調(diào)制方法。

在實(shí)時模式下，振動和變形以重疊的條紋圖案（輪廓圖）顯示在物體圖像上。通過掃頻，可以輕松觀察共振點(diǎn)處的振動模式。此外，通過使用相位調(diào)制方法，可以以動畫或3D繪圖的形式顯示振動模式和位移模式，從而可以進(jìn)行出色的定量和定性振動和位移分析。

下圖顯示了尺寸為 3 x 3 mm 的硅膠膜在氣壓作用下變形時的位移模式。通過將條紋圖案實(shí)時重疊在測量對象上來顯示位移量，可以輕松確認(rèn)位移分析。

通過使用相位調(diào)制，測量靈敏度可提高至大約 1 nm。


日本syscom振動/位移分析裝置激光測量儀 MEMSMap 510 規(guī)格參數(shù)


下面的動畫是 14.3MHz 超聲波組件和 37MHz 石英晶體振動模式 3D 繪圖示例。

該 3D 圖還包含實(shí)際振動狀態(tài)的相位信息，通過將相位信息從 0 更改為 2π，您可以在動畫中檢查對象的振動狀態(tài)。

當(dāng)在振動測量中使用相位調(diào)制方法時，Micromap還控制被測物體的激勵頻率，可以測量約1納米的振動幅度和高達(dá)數(shù)百兆赫茲的頻率范圍。




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