貝克休斯 探傷儀歐規(guī)探頭 系列- 耐磨探頭，用于檢測結構簡單的金屬零件如大型鍛件、鑄件、坯料。小款探頭用于管材、板材、棒材、儲罐、小型鍛件。
貝克休斯 探傷儀歐規(guī)探頭 系列
特點
持久耐磨的工作面
與金屬匹配良好
比保護膜探頭有更高增益余量
應用
用于檢測結構簡單的金屬零件如大型鍛件、鑄件、坯料
小款探頭用于管材、板材、棒材、儲罐、小型鍛件
疊層、分層結構、粘接檢測
大型部件和難于穿透的材料檢測
貝克休斯 探傷儀歐規(guī)探頭 系列
耐磨探頭特點
持B…F系列
A=31 B=15
晶片直徑20mm，帶寬60，側裝LEMO 00接口
型號 | 頻率 | 近場距離 |
B 1 F | 1MHz | 16mm |
B 2 F | 2MHz | 31mm |
B 4 F | 4MHz | 62mm |
B 5 F | 5MHz | 76mm |
MB…F系列
晶片直徑10mm，帶寬60，側裝LEMO 00接口
型號 | 頻率 | 近場距離 |
MB2F | 2MHz | 8mm |
MB4F | 4MHz | 16mm |
MB4F-EN | 4MHz | 16mm |
MB5F | 5MHz | 19mm |
MB10F | 10MHz | 32mm |
K…G系列
晶片直徑24mm，帶寬40-80，側裝LEMO00接口
型號 | 頻率 | 近場距離 |
K1G | 1MHz | 23mm |
K2G | 2MHz | 45mm |
K2G-EN | 2MHz | 45mm |
K4G | 4MHz | 88mm |
K4G-EN | 4MHz | 88mm |
K…N系列
A=15B=31 C=26
晶片直徑10mm，帶寬40-80，側裝LEMO00接口
型號 | 頻率 | 近場距離 |
K1N | 1MHz | 4mm |
K2N | 2MHz | 8mm |
K4N | 4MHz | 16mm |
K5N | 5MHz | 20mm |
K6N | 6MHz |
|
G…N系列
A=30B=37 C=40
晶片直徑24mm，帶寬>80，側裝LEMO00接口
型號 | 頻率 | 近場距離 |
G1N-F | 1MHz | 23mm |
G2N-F | 2MHz | 45mm |
G4N-F | 4MHz | 88mm |
G…KB系列
晶片直徑10mm，帶寬40-65，側裝Microdot接口
G2KB頻率2MHz，晶片直徑10mm，近場距離8mm
G5KB頻率5MHz，晶片直徑10mm，近場距離20mm
K…K系列
晶片直徑5mm，帶寬>80，側裝Microdot接口
型號 | 頻率 | 近場距離 |
K2K | 2MHz |
|
K5K | 5MHz | 5 |
K5K-EN | 5MHz | 5 |
K10K | 10MHz | 10 |
K10K-EN | 10MHz | 10 |
G…K系列
A=11B=17
G5K頻率5MHz，晶片直徑5mm，近場距離5mm，帶寬>80,側裝Microdot接口
G10K頻率10MHz，晶片直徑10mm，近場距離5mm，帶寬>80,側裝Microdot接口
