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當(dāng)前位置:美薩科技(蘇州)有限公司>>分析儀器>>光度計(jì)>> Hitachi/日立 UH4150近紅外分光光度計(jì)
產(chǎn)品型號(hào)Hitachi/日立 UH4150
品 牌Hitachi/日立
廠商性質(zhì)代理商
所 在 地蘇州市
更新時(shí)間:2025-05-26 15:04:00瀏覽次數(shù):65次
聯(lián)系我時(shí),請(qǐng)告知來(lái)自 化工儀器網(wǎng)波長(zhǎng)范圍 | 300nm | 波長(zhǎng)準(zhǔn)確度 | 300nm |
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光譜帶寬 | 300nm | 價(jià)格區(qū)間 | 15萬(wàn)-25萬(wàn) |
接收器類 | 雙硅光電池 | 儀器結(jié)構(gòu) | 雙光束 |
應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子/電池,制藥/生物制藥,汽車及零部件 | 雜散光(S.L.) | 0.2%T |
自動(dòng)程度 | 手動(dòng)波長(zhǎng) |
HITACHI日立是一家全球性的日立公司,通過(guò)互聯(lián)材料分析解決方案幫助我們的客戶變得更加成功和可持續(xù),這些解決方案使生產(chǎn)和開(kāi)發(fā)過(guò)程更加高效、自動(dòng)化和綠色,以確保產(chǎn)品質(zhì)量、可靠性和合規(guī)性。我們提供實(shí)驗(yàn)室級(jí)和強(qiáng)大高性能現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)設(shè)備如光電直讀光譜儀、X射線熒光光譜(XRF)、X熒光測(cè)厚儀(鍍層測(cè)厚儀)、激光誘導(dǎo)擊穿光譜儀(LIBS)、熱分析儀、鋰電池異物分析儀、油品分析儀、土壤分析儀等。
安裝在積分球上的多個(gè)檢測(cè)器可在紫外-可見(jiàn)-近紅外的波長(zhǎng)范圍內(nèi)進(jìn)行測(cè)定。由于使用日立專業(yè)的積分球結(jié)構(gòu)技術(shù)和信號(hào)處理技術(shù)等,將檢測(cè)器切換時(shí)(信號(hào)水平的差異)吸光度值的變化降到最小。
UH4150采用棱鏡-光柵(P-G)雙單色器的光學(xué)系統(tǒng),秉承U-4100光學(xué)系統(tǒng)的特點(diǎn)。棱鏡-光柵(P-G)系統(tǒng)與常見(jiàn)的光柵-光柵(G-G)系統(tǒng)相比,S和P偏振光強(qiáng)度沒(méi)有大的改變。即使對(duì)于低透過(guò)率和反射率的樣品,UH4150也可實(shí)現(xiàn)低噪音測(cè)定。
入射角對(duì)固體樣品鏡面反射率的測(cè)定非常重要。對(duì)于會(huì)聚光束,由于入射角根據(jù)透鏡的焦距等因素會(huì)不同,因此,像導(dǎo)電多層膜和棱鏡等光學(xué)薄膜的模擬設(shè)計(jì)值將與實(shí)際測(cè)定值不同。 但對(duì)于平行光束,相對(duì)于樣品入射角始終相同,實(shí)現(xiàn)了高精度鏡面反射率的測(cè)定。此外,平行光束可用于擴(kuò)散率(霧度)的評(píng)價(jià)和透鏡透過(guò)率的測(cè)定。
可使用八種不同材料、尺寸和形狀的積分球。*2*3
改進(jìn)樣品室門(mén),提升操作性。為了便于更換樣品和附件的操作,采用了符合人體工學(xué)的設(shè)計(jì)。
通用附件適用于兩種型號(hào)。U-4100型附件也可用在UH4150型*4由于附件可拆卸,適合更多的測(cè)定類型。
在秉承U-4100型光學(xué)系統(tǒng)高性能的同時(shí),UH4150提供更高通量的測(cè)定。之前型號(hào)的儀器在1 nm數(shù)據(jù)間隔下測(cè)定時(shí),掃描速度必須是600 mm/min。UH4150型可在1,200 nm/min的掃描速度下以1 nm的間隔進(jìn)行測(cè)定,顯著縮短測(cè)定時(shí)間。*5UH4150在約2分鐘內(nèi)可從240 nm測(cè)定到2,600 nm。對(duì)需要在紫外-可見(jiàn)-近紅外波長(zhǎng)范圍內(nèi)測(cè)定的樣品,如太陽(yáng)能反射材料,尤其有效。
各類日系工業(yè)品:,SSD西西蒂(離子風(fēng)扇)、AND愛(ài)安得(電子天平)、SAN-EI三英(點(diǎn)膠閥) HOYA光源,KURABO脫泡機(jī),USHIO牛尾照度計(jì),Tsubosaka壺坂電機(jī),IMV愛(ài)睦威,PISCO匹士克接頭,hakko八光電機(jī),lambda拉姆達(dá)膜厚儀,MUSASHI武藏,SAKURAI櫻井,aitec艾泰克,otsuka大塚(膜厚儀、粒度儀),Hitachi日立(掃描電鏡),MIKASA米卡薩(旋涂設(shè)備、顯影)、POLARION普拉瑞、AITEC艾泰克(檢查光源)、Iwasaki巖崎、OTSUKA大塚電子(光學(xué)膜厚儀)、KOSAKA小坂(臺(tái)階儀)、HORIBA堀場(chǎng)儀器(分析儀)、SIBATA柴田科學(xué)(環(huán)境測(cè)定)、TORAY東麗濃度儀(氧氣分析儀)、yamada山田鹵素強(qiáng)光燈、CEDAR思達(dá)
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