在設計、驗證和制造射頻及微波設備時，有必要使用頻譜分析儀搜索雜散。

衛(wèi)星應用中的發(fā)射機和接收機設備必須滿足極其嚴苛的雜散限值。這就意味著要在寬頻率范圍內檢測極低電平的雜散。一般情況下，需要使用窄分辨率帶寬 (RBW) 以便在高靈敏度下進行測量，但這樣一來，測量時間要長得多。即使采用配備 FFT 濾波器的快速頻譜分析儀，雜散檢測也可能花費數(shù)小時甚至數(shù)天。

一種新型雜散檢測算法可自動執(zhí)行雜散測量并提高測量速度。

R&S®FSW-K50 雜散測量應用可通過三步法檢測并確定雜散。首先通過快速掃描測定 RBW。然后進行二次掃描檢測可能的雜散。每個已知雜散頻率的最終高速搜索可確定峰值是實際雜散、噪聲偽像還是分析儀內部雜散。進一步降低 RBW 以滿足信噪比要求。

R&S®FSW-K50 雜散測量應用的測量流程

1.頻譜視圖和噪聲基底估算

• 預計測量時間

• 帶 RBW 的分段表格

2.雜散檢測

• 雜散檢測限值通過 / 失敗

• 初步雜散表格

3.雜散點搜索

• 通過 / 失敗

• 最終雜散表格

• 優(yōu)化的 RBW（如需）

寬范圍雜散搜索的測量設置。在每個頻率分段范圍的均可配置參數(shù)。

與傳統(tǒng)的雜散測量應用相比，R&S®FSW-K50 具備多種優(yōu)勢：

• 雜散檢測速度比現(xiàn)有頻譜分析儀快 30 倍，尤其是在低RBW 的情況下

• 根據(jù)允許的雜散水平值和所需信噪比自動計算 RBW

• 具備兩種不同的測量模式：適用于未知雜散場景的寬范圍檢測，以及適用于特定頻率的定向檢測

雜散測量應用結果屏幕。

縮放雜散點搜索。降低雜散的 RBW 以減少噪聲基底并滿足用戶設定的 SNR 要求，同時測定峰值是否為真正的雜散。