超細(xì)顆粒粒度分析儀的性能和特點(diǎn)
亞微米技術(shù)是當(dāng)今重點(diǎn)研究及發(fā)展技術(shù),它能夠應(yīng)用于工業(yè)及科學(xué)領(lǐng)域上,從物料科學(xué)至電子配件,從化學(xué)分析至生物科學(xué),亞微米技術(shù)扮演著重要的角色。因此,亞微米顆粒分析儀的需求不斷上升。
一、超細(xì)顆粒粒度分析儀性能分析:
·粒度測(cè)量范圍:3-3000nm
·分子量測(cè)量范圍:104-1013 Daltons
·分析時(shí)間:30-180秒(或以上)
·樣品溫控范圍:6oC-60oC
二、超細(xì)顆粒粒度分析儀技術(shù)特點(diǎn):
·應(yīng)用動(dòng)態(tài)光散射原理,符合ISO 13321標(biāo)準(zhǔn)
·*的六角度(14.9o, 20.6o, 30.4o, 40.2o, 50.4o及90o)納米粒度分析儀。
·小角度測(cè)量具有更高的分辨率與靈敏度。
·高功率激光器確保弱光散射和極稀濃度樣品分析的準(zhǔn)確性。
·*的”Finger-Print”指紋圖譜,提供快速的樣品污染物檢測(cè),利用四個(gè)角度分析樣品,對(duì)照不同樣品的
圖譜,可鑒別樣品存在污染物;多分散體或混雜體。
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