CTS-8072PR-500脈沖發(fā)生接收儀應(yīng)用
CTS-8072PR-500脈沖發(fā)生接收儀應(yīng)用
CTS-8072PR-500是國(guó)內(nèi)臺(tái)單通道、雙通道可選配的脈沖發(fā)生。其帶寬大可到500MHz,CTS-8072PR-500具備遠(yuǎn)端脈沖前置發(fā)生器RP-1。該設(shè)備和本公司CTS-8072PR+雙通道高頻脈沖發(fā)生接收儀高、低搭配,覆蓋從5MHz~500MHz(支持定制)聲應(yīng)用,是替代國(guó)外進(jìn)口產(chǎn)品的理想選擇(如替代D*P500系列)。
產(chǎn)品介紹
CTS-8072PR-500是國(guó)內(nèi)臺(tái)單通道、雙通道可選配的脈沖發(fā)生。其帶寬大可到500MHz,CTS-8072PR-500具備遠(yuǎn)端脈沖前置發(fā)生器RP-1,該模塊可以允許激勵(lì)部分非常靠近探頭,減少探頭和之間的線纜長(zhǎng)度,將線纜產(chǎn)生的干擾信號(hào)降低到小,用戶可以選擇(定制)多種遠(yuǎn)程脈沖前置放大器搭配使用,來(lái)適應(yīng)不同范圍的探頭頻率和脈沖能量需求。同時(shí)特殊設(shè)計(jì)匹配高頻探頭的尖脈沖發(fā)生器,脈沖寬度1.2ns,-105V~-220V可調(diào),能發(fā)揮高頻探頭的優(yōu)性能。該設(shè)備和本公司CTS-8072PR+雙通道高頻脈沖發(fā)生接收儀高、低搭配,覆蓋從5MHz~500MHz(支持定制)聲應(yīng)用,是替代國(guó)外進(jìn)口產(chǎn)品的理想選擇(如替代D*P500系列)。
該儀器廣泛應(yīng)用于聲顯微鏡涂層測(cè)厚、薄材料或非衰減材料探傷,為聲成像檢測(cè)、厚度測(cè)量、材料性能測(cè)定以及探頭性能測(cè)定提供的模塊組合。
功能特點(diǎn)
測(cè)量:可以對(duì)物體尺寸、形狀和位置進(jìn)行測(cè)量。比如在工業(yè)無(wú)損中,能夠準(zhǔn)確出零部件的微小缺陷。
特殊設(shè)計(jì)匹配高頻探頭的尖脈沖發(fā)生器,脈沖寬度1.2ns,-105V~-220V可調(diào)。
窄波束:波束較窄,有助于提高檢測(cè)的方向性和定位精度。
脈沖重復(fù)頻率可調(diào),20kHz。
信號(hào)帶寬:5MHz~500MHz(支持定制)。
-10dB~+50dB,1dB步進(jìn)的RF可調(diào)增益范圍。
可配套100MHz~400MHz的高頻聲波探頭使用。
性能指標(biāo)
以下6圖為美國(guó)**R500配合*P-U2與CTS-8072PR-500配合RP-1噪聲、、**波形性能對(duì)比,CTS-8072PR-500總體性能**R500。
應(yīng)用領(lǐng)域
電子:檢測(cè)集成電路芯片、印刷電路板的缺陷。聲掃描顯微鏡SAM、高頻C掃等。
材料研究:評(píng)估微小材料的結(jié)構(gòu)完整性,如復(fù)合材料中的微小裂紋。可應(yīng)用于測(cè)量材料的聲學(xué)特性,如聲速、衰減等,包括材料晶粒度的評(píng)估等。
精密機(jī)械:檢測(cè)精密零部件的表面和內(nèi)部缺陷。
探頭測(cè)試:可應(yīng)用于聲波探頭的聲學(xué)特性的評(píng)價(jià)以及性能指標(biāo)的測(cè)試。
聲學(xué):探究高頻聲在不同介質(zhì)中的傳播特性。
CTS-8072PR-500主機(jī) | |
信號(hào)帶寬 | 5MHz~500MHz(支持定制) |
增益范圍 | -10dB~+50dB |
高通濾波 | 20MHz(可定制) |
低通濾波 | 500MHz(可定制) |
輸出阻抗 | 50Ω |
輸出電壓 | 1200mVp-p |
重復(fù)頻率 | 20kHz |
輸入噪聲 | ≤600μVpp@全帶寬 |
RP-1遠(yuǎn)端脈沖發(fā)生器 | |
**脈沖 | 負(fù)尖波 |
脈沖寬度 | <1.2ns |
下降沿 | <0.6ns |
**電壓 | -105V~-220V可調(diào) |
衰減阻尼 | 17Ω、21Ω、50Ω、100Ω |
單雙模式 | 單 |
能量控制 | 高/低 |
增益 | +6dB |
信號(hào)帶寬 | 1MHz~500MHz(@-3dB) |
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