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材料的電輸運性質(zhì)測試是表征材料導電行為的關(guān)鍵技術(shù)，主要通過測量電阻率、載流子濃度及遷移率等參數(shù)，揭示材料在電場、磁場及溫度變化下的電子傳輸機制。以下是核心測試內(nèi)容。
1.?電阻率與電導率?
通過四探針法（消除接觸電阻影響）或范德堡法測量電阻率（ρ），電導率（σ）為其倒數(shù)（σ=1/ρ），反映材料導電能力。
2.?載流子特性?
霍爾效應(yīng)測試可獲取載流子濃度（n）、遷移率（μ）及導電類型（p/n型），公式：R_H=1/(ne)（R_H為霍爾系數(shù)）。
3.?磁輸運行為?
磁阻（MR）測量電阻隨磁場強度的變化率，公式：MR=(R_H-R_0)/R_0，用于研究自旋電子學材料。
4.?溫度依賴性?
變溫電阻（R-T）曲線可分析半導體禁帶寬度、超導轉(zhuǎn)變溫度等相變特征。
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